本技術(shù)涉及芯片，特別是涉及一種芯片驗(yàn)證方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、隨著芯片規(guī)模的日益擴(kuò)大，芯片設(shè)計(jì)的功能日益復(fù)雜，芯片驗(yàn)證的復(fù)雜度和時(shí)間也隨之成幾何倍數(shù)增長，其中定位問題時(shí)間點(diǎn)(出錯(cuò)時(shí)間點(diǎn))也越來越困難，經(jīng)常是很難定位到問題時(shí)間點(diǎn)(出錯(cuò)時(shí)間點(diǎn))，從而更難定位到出錯(cuò)的具體問題，這是一個(gè)困擾芯片驗(yàn)證人員的難題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)至少提供一種芯片驗(yàn)證方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)。

2、為解決上述技術(shù)問題，本技術(shù)采用的一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種芯片驗(yàn)證方法，該方法包括：獲取目標(biāo)芯片在本次運(yùn)行過程所產(chǎn)生的若干第一運(yùn)行記錄；其中，第一運(yùn)行記錄上標(biāo)記有第一運(yùn)行記錄對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)；從若干第一運(yùn)行記錄中，選出表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常的至少一個(gè)第一運(yùn)行記錄，作為第二運(yùn)行記錄；基于各第二運(yùn)行記錄對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，確定目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)，其中，問題時(shí)間點(diǎn)用于指示在目標(biāo)芯片重新運(yùn)行過程中需獲取的關(guān)聯(lián)運(yùn)行數(shù)據(jù)的產(chǎn)生時(shí)間，關(guān)聯(lián)運(yùn)行數(shù)據(jù)用于對目標(biāo)芯片進(jìn)行異常分析。

3、因此，第二運(yùn)行記錄為表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常的運(yùn)行記錄，所以，第二運(yùn)行記錄所對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，就是目標(biāo)芯片存在問題而運(yùn)行異常的時(shí)間點(diǎn)，也就是目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)；所以，基于各第二運(yùn)行記錄所標(biāo)記的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，能夠快速且準(zhǔn)確地確定目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)。

4、進(jìn)一步地，用戶能夠基于定位出的問題時(shí)間點(diǎn)對芯片進(jìn)行具體問題的定位，以完成對芯片的驗(yàn)證，由于是準(zhǔn)確且快速地定位出了芯片存在異常的問題時(shí)間點(diǎn)，所以，用戶能夠在芯片存在運(yùn)行異常的位置進(jìn)行具體問題定位，而無需對芯片的整個(gè)運(yùn)行過程進(jìn)行分析而進(jìn)行具體問題定位，縮短了芯片驗(yàn)證的周期，提高了芯片驗(yàn)證的效率。

5、其中，每個(gè)第一運(yùn)行記錄包括log數(shù)據(jù)和debug數(shù)據(jù)中的至少一者。

6、因此，可靈活設(shè)置第一運(yùn)行記錄的具體數(shù)據(jù)類型。

7、其中，每個(gè)第一運(yùn)行記錄包括log數(shù)據(jù)，log數(shù)據(jù)包括log事件的事件描述；從若干第一運(yùn)行記錄中，選出表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常的至少一個(gè)第一運(yùn)行記錄，作為第二運(yùn)行記錄，包括：對各log事件的事件描述進(jìn)行分析，確定各log事件是否為錯(cuò)誤事件；響應(yīng)于log事件為錯(cuò)誤事件，將log事件對應(yīng)的第一運(yùn)行記錄，作為第二運(yùn)行記錄。

8、因此，log數(shù)據(jù)中的log事件為錯(cuò)誤事件時(shí)，表明此時(shí)此刻目標(biāo)芯片是異常的，是存在問題的，并且，在log數(shù)據(jù)中的log事件為錯(cuò)誤事件時(shí)，在log事件的事件描述會(huì)描述log事件的錯(cuò)誤情況。所以，在第一運(yùn)行記錄包括log數(shù)據(jù)的情況下，通過對各log事件的事件描述進(jìn)行分析，能夠確定各log事件是否為錯(cuò)誤事件，從而在確定log事件為錯(cuò)誤事件時(shí)，確定log事件對應(yīng)的第一運(yùn)行記錄為表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常的運(yùn)行記錄。

9、其中，對各log事件的事件描述進(jìn)行分析，確定各log事件是否為錯(cuò)誤事件，包括：分析各log事件的事件描述是否為錯(cuò)誤代碼或者事件錯(cuò)誤原因；響應(yīng)于log事件的事件描述為錯(cuò)誤代碼和/或事件錯(cuò)誤原因，確定log事件為錯(cuò)誤事件。

10、因此，在log事件的事件描述為錯(cuò)誤代碼或者事件錯(cuò)誤原因時(shí)，表明此時(shí)此刻目標(biāo)芯片是異常的，是存在問題的。所以，通過對各log事件的事件描述進(jìn)行分析，能夠確定各log事件是否為錯(cuò)誤事件。

11、其中，每個(gè)第一運(yùn)行記錄包括debug數(shù)據(jù)；從若干第一運(yùn)行記錄中，選出表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常的至少一個(gè)第一運(yùn)行記錄，作為第二運(yùn)行記錄，包括：對各debug數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，確定各debug數(shù)據(jù)是否包括異常錯(cuò)誤信息；響應(yīng)于debug數(shù)據(jù)包括異常錯(cuò)誤信息，將debug數(shù)據(jù)對應(yīng)的第一運(yùn)行記錄，作為第二運(yùn)行記錄。

12、因此，在芯片運(yùn)行異常時(shí)，會(huì)捕獲并記錄運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的異常情況和錯(cuò)誤信息，即，會(huì)捕獲并記錄異常錯(cuò)誤信息。對debug數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，以確定debug數(shù)據(jù)中是否存在捕獲并記錄的異常錯(cuò)誤信息，而只有在芯片運(yùn)行異常時(shí)才能捕獲并記錄異常錯(cuò)誤信息，所以，在debug數(shù)據(jù)中存在捕獲并記錄的異常錯(cuò)誤信息時(shí)，則可確定debug數(shù)據(jù)對應(yīng)的第一運(yùn)行記錄，為表征芯片運(yùn)行異常的運(yùn)行記錄。

13、其中，每個(gè)第一運(yùn)行記錄包括log數(shù)據(jù)和debug數(shù)據(jù)；從若干第一運(yùn)行記錄中，選出表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常的至少一個(gè)第一運(yùn)行記錄，作為第二運(yùn)行記錄，包括：對于各第一運(yùn)行記錄，對第一運(yùn)行記錄中的log數(shù)據(jù)和debug數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，確定第一運(yùn)行記錄中的log數(shù)據(jù)和debug數(shù)據(jù)是否表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常；響應(yīng)于第一運(yùn)行記錄中的log數(shù)據(jù)和debug數(shù)據(jù)均表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常，將第一運(yùn)行記錄作為第二運(yùn)行記錄。

14、因此，在目標(biāo)芯片在某一運(yùn)行時(shí)間點(diǎn)運(yùn)行異常時(shí)，目標(biāo)芯片在該運(yùn)行時(shí)刻所相關(guān)的運(yùn)行數(shù)據(jù)應(yīng)該都是異常的，所以，在第一運(yùn)行記錄中的log數(shù)據(jù)和debug數(shù)據(jù)(log數(shù)據(jù)和debug數(shù)據(jù)為同一運(yùn)行時(shí)間點(diǎn)的不同運(yùn)行數(shù)據(jù))均異常時(shí)，才能足以說明目標(biāo)芯片在該運(yùn)行時(shí)間點(diǎn)是運(yùn)行異常的，即，才能足以說明在該運(yùn)行時(shí)間點(diǎn)所產(chǎn)生的運(yùn)行數(shù)據(jù)即第一運(yùn)行記錄，為表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常的運(yùn)行記錄，提高了確定的表征目標(biāo)運(yùn)行異常運(yùn)行記錄的準(zhǔn)確性，后續(xù)基于此確定的問題點(diǎn)更加準(zhǔn)確，從而提高了芯片驗(yàn)證的準(zhǔn)確性。

15、其中，基于各第二運(yùn)行記錄對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，確定目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)，包括：對于各第二運(yùn)行記錄對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，獲取位于發(fā)生時(shí)間點(diǎn)之前的第一時(shí)間點(diǎn)以及位于發(fā)生時(shí)間點(diǎn)之后的第二時(shí)間點(diǎn)；其中，第一時(shí)間點(diǎn)與發(fā)生時(shí)間點(diǎn)之間的時(shí)間間隔滿足第一間隔要求，第二時(shí)間點(diǎn)與發(fā)生時(shí)間點(diǎn)之間的時(shí)間間隔滿足第二間隔要求；將各第二運(yùn)行記錄對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)、第一時(shí)間點(diǎn)和第二時(shí)間點(diǎn)，作為目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)。

16、因此，將包括第二運(yùn)行記錄對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)在內(nèi)的時(shí)間范圍作為目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)，提高了確定的問題時(shí)間點(diǎn)的準(zhǔn)確性。

17、其中，目標(biāo)芯片中設(shè)置有計(jì)數(shù)器，發(fā)生時(shí)間點(diǎn)由計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值表示，計(jì)數(shù)器由目標(biāo)芯片內(nèi)的時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行計(jì)數(shù)。

18、因此，可設(shè)置計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值表示第一運(yùn)行記錄所對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，第一運(yùn)行記錄所對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)的表示更加簡單。

19、其中，在基于各第二運(yùn)行記錄對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，確定目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)之后，芯片驗(yàn)證方法包括：獲取目標(biāo)芯片重新運(yùn)行至問題時(shí)間點(diǎn)所產(chǎn)生的關(guān)聯(lián)運(yùn)行數(shù)據(jù)；基于關(guān)聯(lián)運(yùn)行數(shù)據(jù)，對目標(biāo)芯片進(jìn)行異常分析。

20、因此，用戶能夠在芯片存在運(yùn)行異常的位置進(jìn)行具體問題定位，而無需對芯片的整個(gè)運(yùn)行過程進(jìn)行分析而進(jìn)行具體問題定位，縮短了芯片驗(yàn)證的周期，提高了芯片驗(yàn)證的效率。

21、為解決上述技術(shù)問題，本技術(shù)采用的另一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種芯片驗(yàn)證裝置，該芯片驗(yàn)證方法包括獲取模塊、選擇模塊和確定模塊；獲取模塊用于獲取目標(biāo)芯片在本次運(yùn)行過程所產(chǎn)生的若干第一運(yùn)行記錄；其中，第一運(yùn)行記錄上標(biāo)記有第一運(yùn)行記錄對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)；選擇模塊用于從若干第一運(yùn)行記錄中，選出表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常的至少一個(gè)第一運(yùn)行記錄，作為第二運(yùn)行記錄；確定模塊用于基于各第二運(yùn)行記錄對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，確定目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)，其中，問題時(shí)間點(diǎn)用于指示在目標(biāo)芯片重新運(yùn)行過程中需獲取的關(guān)聯(lián)運(yùn)行數(shù)據(jù)的產(chǎn)生時(shí)間，關(guān)聯(lián)運(yùn)行數(shù)據(jù)用于對目標(biāo)芯片進(jìn)行異常分析。

22、為解決上述技術(shù)問題，本技術(shù)采用的另一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種電子設(shè)備，該電子設(shè)備包括處理器和存儲(chǔ)器，存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有程序指令，所述處理器用于執(zhí)行程序指令以實(shí)現(xiàn)上述的芯片驗(yàn)證方法。

23、為解決上述技術(shù)問題，本技術(shù)采用的另一種技術(shù)方案是：提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)用于存儲(chǔ)程序指令，程序指令能夠被執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)上述的芯片驗(yàn)證方法。

24、上述技術(shù)方案，第二運(yùn)行記錄為表征目標(biāo)芯片運(yùn)行異常的運(yùn)行記錄，所以，第二運(yùn)行記錄所對應(yīng)的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，就是目標(biāo)芯片存在問題而運(yùn)行異常的時(shí)間點(diǎn)，也就是目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)；所以，基于各第二運(yùn)行記錄所標(biāo)記的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)，能夠快速且準(zhǔn)確地確定目標(biāo)芯片存在運(yùn)行異常的問題時(shí)間點(diǎn)。

25、進(jìn)一步地，用戶能夠基于定位出的問題時(shí)間點(diǎn)對芯片進(jìn)行具體問題的定位，以完成對芯片的驗(yàn)證，由于是準(zhǔn)確且快速地定位出了芯片存在異常的問題時(shí)間點(diǎn)，所以，用戶能夠在芯片存在運(yùn)行異常的位置進(jìn)行具體問題定位，而無需對芯片的整個(gè)運(yùn)行過程進(jìn)行分析而進(jìn)行具體問題定位，縮短了芯片驗(yàn)證的周期，提高了芯片驗(yàn)證的效率。