技術特征：

1.一種芯片驗證方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，

3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，每個所述第一運行記錄包括log數(shù)據(jù)，所述log數(shù)據(jù)包括log事件的事件描述；所述從所述若干第一運行記錄中，選出表征所述目標芯片運行異常的至少一個第一運行記錄，作為第二運行記錄，包括：

4.根據(jù)權利要求3所述的方法，其特征在于，所述對各所述log事件的事件描述進行分析，確定各所述log事件是否為錯誤事件，包括：

5.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，每個所述第一運行記錄包括debug數(shù)據(jù)；所述從所述若干第一運行記錄中，選出表征所述目標芯片運行異常的至少一個第一運行記錄，作為第二運行記錄，包括：

6.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，每個所述第一運行記錄包括log數(shù)據(jù)和debug數(shù)據(jù)；所述從所述若干第一運行記錄中，選出表征所述目標芯片運行異常的至少一個第一運行記錄，作為第二運行記錄，包括：

7.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述第二運行記錄對應的發(fā)生時間點，確定所述目標芯片存在運行異常的問題時間點，包括：

8.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，

9.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于各所述第二運行記錄對應的發(fā)生時間點，確定所述目標芯片存在運行異常的問題時間點之后，還包括：

10.一種芯片驗證裝置，其特征在于，所述芯片驗證裝置包括：

11.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括處理器和存儲器，所述存儲器存儲有程序指令，所述處理器用于執(zhí)行所述程序指令以實現(xiàn)如權利要求1-9任一項所述的芯片驗證方法。

12.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)用于存儲程序指令，所述程序指令能夠被執(zhí)行以實現(xiàn)如權利要求1-9任一項所述的芯片驗證方法。

技術總結
本申請公開了一種芯片驗證方法、裝置、電子設備和存儲介質(zhì)，該方法包括：獲取目標芯片在本次運行過程所產(chǎn)生的若干第一運行記錄；其中，第一運行記錄上標記有第一運行記錄對應的發(fā)生時間點；從若干第一運行記錄中，選出表征目標芯片運行異常的至少一個第一運行記錄，作為第二運行記錄；基于各第二運行記錄對應的發(fā)生時間點，確定目標芯片存在運行異常的問題時間點，其中，問題時間點用于指示在目標芯片重新運行過程中需獲取的關聯(lián)運行數(shù)據(jù)的產(chǎn)生時間，關聯(lián)運行數(shù)據(jù)用于對目標芯片進行異常分析。通過上述方式，本申請能夠快速且準確地確定目標芯片運行異常的問題時間點。

技術研發(fā)人員：李益全,朱光宇,李林鵬,劉才齊
受保護的技術使用者：上海商湯智能科技有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/12/30