本技術(shù)涉及自動(dòng)化檢測(cè)相關(guān)領(lǐng)域,尤其涉及原料瑕疵自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)規(guī)避方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、在現(xiàn)代化工業(yè)生產(chǎn)中,原料的質(zhì)量控制是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。原料瑕疵的及時(shí)檢測(cè)與有效管理對(duì)于提升生產(chǎn)效率、降低廢品率、增強(qiáng)產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力具有重要意義。隨著計(jì)算機(jī)視覺(jué)與人工智能技術(shù)的飛速發(fā)展,自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)(aoi)逐漸成為原料瑕疵檢測(cè)的重要手段。然而,傳統(tǒng)的aoi系統(tǒng)往往局限于二維圖像分析,難以全面捕捉原料的三維形態(tài)與復(fù)雜表面特征,導(dǎo)致瑕疵檢測(cè)的準(zhǔn)確率受限。
2、現(xiàn)階段相關(guān)技術(shù)中,原料瑕疵自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)存在瑕疵檢測(cè)的準(zhǔn)確率不高的技術(shù)問(wèn)題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本技術(shù)通過(guò)提供原料瑕疵自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)規(guī)避方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),采用利用輔助運(yùn)動(dòng)平臺(tái)對(duì)目標(biāo)原料進(jìn)行三維光學(xué)掃描,構(gòu)建全面的光學(xué)影像集,通過(guò)影像-向量轉(zhuǎn)換技術(shù),將影像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為向量形式,通過(guò)監(jiān)督訓(xùn)練的圖編碼器與瑕疵檢測(cè)模塊,結(jié)合多層鄰接樣本與對(duì)比學(xué)習(xí)原理,對(duì)瑕疵進(jìn)行精準(zhǔn)識(shí)別與分類(lèi),在檢測(cè)出瑕疵后,自動(dòng)進(jìn)行預(yù)案規(guī)避決策,生成瑕疵檢出單,并基于規(guī)避預(yù)案進(jìn)行原料瑕疵管理,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)與管理的無(wú)縫銜接等技術(shù)手段,達(dá)到了實(shí)現(xiàn)對(duì)原料瑕疵的精準(zhǔn)檢測(cè)的技術(shù)效果。
2、本技術(shù)提供原料瑕疵自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)規(guī)避方法,包括:
3、通過(guò)輔助運(yùn)動(dòng)平臺(tái)對(duì)目標(biāo)原料進(jìn)行三維光學(xué)掃描成像,確定光學(xué)影像集,其中,所述光學(xué)影像集標(biāo)識(shí)有相對(duì)空間位置;以影像-向量轉(zhuǎn)換為底層邏輯,監(jiān)督訓(xùn)練圖編碼器,基于所述圖編碼器,對(duì)所述光學(xué)影像集進(jìn)行向量轉(zhuǎn)換與多重影像融合,確定影像向量集;交互光學(xué)瑕疵記錄,以預(yù)設(shè)瑕疵影響度為基準(zhǔn)遞推進(jìn)行多次鄰域聚合,確定多層鄰接樣本并挖掘瑕疵圖網(wǎng)絡(luò),引入對(duì)比學(xué)習(xí)原理,監(jiān)督訓(xùn)練瑕疵檢測(cè)模塊;遍歷所述影像向量集,結(jié)合所述瑕疵檢測(cè)模塊進(jìn)行瑕疵對(duì)比檢測(cè)與預(yù)案規(guī)避決策,確定瑕疵檢出單;對(duì)所述瑕疵檢出單進(jìn)行終端顯示,基于規(guī)避預(yù)案進(jìn)行原料瑕疵管理。
4、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述確定光學(xué)影像集之后,執(zhí)行以下處理:
5、遍歷所述光學(xué)影像集,基于預(yù)設(shè)對(duì)比度,識(shí)別并標(biāo)記對(duì)比增強(qiáng)區(qū)域,其中,各對(duì)比增強(qiáng)區(qū)域標(biāo)識(shí)有對(duì)比增強(qiáng)系數(shù);以所述對(duì)比增強(qiáng)系數(shù)為標(biāo)準(zhǔn),對(duì)所述對(duì)比增強(qiáng)區(qū)域進(jìn)行處理,確定對(duì)比處理區(qū)域;針對(duì)所述光學(xué)影像集,對(duì)所述對(duì)比處理區(qū)域進(jìn)行替換。
6、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述確定影像向量集,執(zhí)行以下處理:
7、對(duì)所述光學(xué)影像集進(jìn)行向量轉(zhuǎn)換,確定初始影像向量,其中,所述光學(xué)影像集包含同位置的多視角重疊影像;遍歷所述初始影像向量,以同位置進(jìn)行聚類(lèi),劃分單影像向量簇與多簇重疊影像向量;遍歷所述多簇重疊影像向量進(jìn)行簇內(nèi)融合,結(jié)合所述單影像向量簇,集成整合確定所述影像向量集。
8、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述確定多層鄰接樣本,執(zhí)行以下處理:
9、以所述預(yù)設(shè)瑕疵影響度為基準(zhǔn),確定第一瑕疵影響度,遍歷所述光學(xué)瑕疵記錄,確定一階樣本;以所述第一瑕疵影響度為基準(zhǔn),疊加所述預(yù)設(shè)瑕疵影響度,確定第二瑕疵影響度,遍歷所述光學(xué)瑕疵記錄,確定二階樣本;進(jìn)行所述預(yù)設(shè)瑕疵影響度的疊加確定第n瑕疵影響度,并基于所述光學(xué)瑕疵記錄,確定n階樣本;對(duì)所述一階樣本、所述二階樣本直至所述n階樣本進(jìn)行鄰域遞推的正序列化整合,確定所述多層鄰接樣本,其中,正序列化為高瑕疵影響度至低瑕疵影響度,所述多層鄰接樣本標(biāo)識(shí)有學(xué)習(xí)率,所述學(xué)習(xí)率與瑕疵影響度呈正相關(guān)。
10、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述挖掘瑕疵圖網(wǎng)絡(luò),執(zhí)行以下處理:
11、遍歷所述多層鄰接樣本,以預(yù)設(shè)頻次為約束,逐鄰接層進(jìn)行樣本篩選,確定多層鄰接優(yōu)化樣本;遍歷所述多層鄰接優(yōu)化樣本,提取瑕疵特征并進(jìn)行向量轉(zhuǎn)換,確定所述瑕疵圖網(wǎng)絡(luò),其中,所述瑕疵圖網(wǎng)絡(luò)與所述多層鄰接優(yōu)化樣本結(jié)構(gòu)一致;基于所述學(xué)習(xí)率確定權(quán)重分布,對(duì)所述瑕疵圖網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行標(biāo)識(shí)。
12、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述引入對(duì)比學(xué)習(xí)原理,監(jiān)督訓(xùn)練瑕疵檢測(cè)模塊,執(zhí)行以下處理:
13、基于所述多層鄰接樣本并挖掘瑕疵圖網(wǎng)絡(luò)的映射關(guān)系,確定正樣本集與負(fù)樣本集,其中,所述正樣本為對(duì)比匹配瑕疵類(lèi),所述負(fù)樣本為對(duì)比非匹配瑕疵類(lèi);對(duì)所述正樣本集與所述負(fù)樣本集進(jìn)行極化處理,其中,極化處理包含正樣本集的極大化與負(fù)樣本集的極小化,極大化方式為余弦距離最大化;引入對(duì)比學(xué)習(xí)原理,基于極化處理后的正樣本集與所述負(fù)樣本集進(jìn)行監(jiān)督訓(xùn)練。
14、在可能的實(shí)現(xiàn)方式中,結(jié)合所述瑕疵檢測(cè)模塊進(jìn)行瑕疵對(duì)比檢測(cè)與預(yù)案規(guī)避決策,確定瑕疵檢出單,執(zhí)行以下處理:
15、所述瑕疵檢測(cè)模塊包含規(guī)則層與方案層;通過(guò)對(duì)比匹配,基于所述規(guī)則層進(jìn)行基于所述影像向量集的瑕疵檢出,確定單檢出序列;結(jié)合所述權(quán)重分布,遍歷所述單檢出序列并進(jìn)行賦權(quán)計(jì)算,確定總成質(zhì)量系數(shù);遍歷所述單檢出序列,基于所述權(quán)重分布,結(jié)合所述方案層進(jìn)行預(yù)案規(guī)避決策,確定規(guī)避預(yù)案;整合所述單檢出序列、所述總成質(zhì)量系數(shù)與所述規(guī)避預(yù)案,確定所述瑕疵檢出單。
16、本技術(shù)還提供了原料瑕疵自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)規(guī)避系統(tǒng),包括:
17、三維光學(xué)掃描模塊,所述三維光學(xué)掃描模塊用于通過(guò)輔助運(yùn)動(dòng)平臺(tái)對(duì)目標(biāo)原料進(jìn)行三維光學(xué)掃描成像,確定光學(xué)影像集,其中,所述光學(xué)影像集標(biāo)識(shí)有相對(duì)空間位置;影像向量集確定模塊,所述影像向量集確定模塊用于以影像-向量轉(zhuǎn)換為底層邏輯,監(jiān)督訓(xùn)練圖編碼器,基于所述圖編碼器,對(duì)所述光學(xué)影像集進(jìn)行向量轉(zhuǎn)換與多重影像融合,確定影像向量集;瑕疵檢測(cè)模型訓(xùn)練模塊,所述瑕疵檢測(cè)模型訓(xùn)練模塊用于交互光學(xué)瑕疵記錄,以預(yù)設(shè)瑕疵影響度為基準(zhǔn)遞推進(jìn)行多次鄰域聚合,確定多層鄰接樣本并挖掘瑕疵圖網(wǎng)絡(luò),引入對(duì)比學(xué)習(xí)原理,監(jiān)督訓(xùn)練瑕疵檢測(cè)模塊;瑕疵檢出單確定模塊,所述瑕疵檢出單確定模塊用于遍歷所述影像向量集,結(jié)合所述瑕疵檢測(cè)模塊進(jìn)行瑕疵對(duì)比檢測(cè)與預(yù)案規(guī)避決策,確定瑕疵檢出單;原料瑕疵管理模塊,所述原料瑕疵管理模塊用于對(duì)所述瑕疵檢出單進(jìn)行終端顯示,基于規(guī)避預(yù)案進(jìn)行原料瑕疵管理。
18、本技術(shù)還提供了一種電子設(shè)備,包括:
19、存儲(chǔ)器,用于存儲(chǔ)可執(zhí)行指令;
20、處理器,用于執(zhí)行所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的可執(zhí)行指令時(shí),實(shí)現(xiàn)原料瑕疵自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)規(guī)避方法。
21、本技術(shù)還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),包括:
22、其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)原料瑕疵自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)規(guī)避方法。
23、擬通過(guò)本技術(shù)提出的原料瑕疵自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)規(guī)避方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),首先通過(guò)輔助運(yùn)動(dòng)平臺(tái)對(duì)目標(biāo)原料進(jìn)行三維光學(xué)掃描成像,確定光學(xué)影像集,其中,所述光學(xué)影像集標(biāo)識(shí)有相對(duì)空間位置,接著以影像-向量轉(zhuǎn)換為底層邏輯,監(jiān)督訓(xùn)練圖編碼器,基于所述圖編碼器,對(duì)所述光學(xué)影像集進(jìn)行向量轉(zhuǎn)換與多重影像融合,確定影像向量集,然后交互光學(xué)瑕疵記錄,以預(yù)設(shè)瑕疵影響度為基準(zhǔn)遞推進(jìn)行多次鄰域聚合,確定多層鄰接樣本并挖掘瑕疵圖網(wǎng)絡(luò),引入對(duì)比學(xué)習(xí)原理,監(jiān)督訓(xùn)練瑕疵檢測(cè)模塊,進(jìn)而遍歷所述影像向量集,結(jié)合所述瑕疵檢測(cè)模塊進(jìn)行瑕疵對(duì)比檢測(cè)與預(yù)案規(guī)避決策,確定瑕疵檢出單,最后對(duì)所述瑕疵檢出單進(jìn)行終端顯示,基于規(guī)避預(yù)案進(jìn)行原料瑕疵管理,達(dá)到了實(shí)現(xiàn)對(duì)原料瑕疵的精準(zhǔn)檢測(cè)的技術(shù)效果。