技術(shù)特征：

1.原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如權(quán)利要求1所述的原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法，其特征在于，所述確定光學(xué)影像集之后，包括：

3.如權(quán)利要求1所述的原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法，其特征在于，所述確定影像向量集，包括：

4.如權(quán)利要求1所述的原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法，其特征在于，所述確定多層鄰接樣本，包括：

5.如權(quán)利要求4所述的原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法，其特征在于，所述挖掘瑕疵圖網(wǎng)絡(luò)，包括：

6.如權(quán)利要求1所述的原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法，其特征在于，所述引入對比學(xué)習(xí)原理，監(jiān)督訓(xùn)練瑕疵檢測模塊，包括：

7.如權(quán)利要求5所述的原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法，其特征在于，結(jié)合所述瑕疵檢測模塊進(jìn)行瑕疵對比檢測與預(yù)案規(guī)避決策，確定瑕疵檢出單，包括：

8.原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)用于實施權(quán)利要求1-7任一項所述的原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法，所述系統(tǒng)包括：

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：

10.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項所述的原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了原料瑕疵自動光學(xué)檢測規(guī)避方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲介質(zhì)，涉及自動化檢測相關(guān)領(lǐng)域，該方法包括：對目標(biāo)原料進(jìn)行三維光學(xué)掃描成像，確定光學(xué)影像集；對光學(xué)影像集進(jìn)行向量轉(zhuǎn)換與多重影像融合，確定影像向量集；交互光學(xué)瑕疵記錄，以預(yù)設(shè)瑕疵影響度為基準(zhǔn)遞推進(jìn)行多次鄰域聚合，確定多層鄰接樣本并挖掘瑕疵圖網(wǎng)絡(luò)，引入對比學(xué)習(xí)原理，監(jiān)督訓(xùn)練瑕疵檢測模塊；遍歷影像向量集，進(jìn)行瑕疵對比檢測與預(yù)案規(guī)避決策，確定瑕疵檢出單；進(jìn)行終端顯示，基于規(guī)避預(yù)案進(jìn)行原料瑕疵管理。解決了現(xiàn)有原料瑕疵自動光學(xué)檢測存在的瑕疵檢測的準(zhǔn)確率不高的技術(shù)問題，達(dá)到了實現(xiàn)對原料瑕疵的精準(zhǔn)檢測的技術(shù)效果。

技術(shù)研發(fā)人員：魏玉鴻,林燕華,劉春賢
受保護(hù)的技術(shù)使用者：東莞菱工實業(yè)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/23