1.一種物料識(shí)別方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的物料識(shí)別方法,其特征在于,所述檢測(cè)配置信息還包括針對(duì)所述待識(shí)別物料的檢測(cè)內(nèi)容,所述獲取所述第二圖像,并基于所述第二圖像檢測(cè)所述待識(shí)別物料是否合格包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的物料識(shí)別方法,其特征在于,所述方法還包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的物料識(shí)別方法,其特征在于,所述預(yù)設(shè)拍攝位置為升降模組的最高限位處,所述機(jī)械臂通過(guò)所述升降模組上下升降。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的物料識(shí)別方法,其特征在于,所述方法還包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的物料識(shí)別方法,其特征在于,所述方法還包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的物料識(shí)別方法,其特征在于,所述方法還包括:
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的物料識(shí)別方法,其特征在于,所述方法還包括:
9.一種物料識(shí)別裝置,其特征在于,包括:
10.一種物料識(shí)別設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備包括:
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的物料識(shí)別設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備還包括:
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的物料識(shí)別設(shè)備,其特征在于,所述圖像采集模塊包括:
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的物料識(shí)別設(shè)備,其特征在于,所述圖像采集模塊還包括:
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的物料識(shí)別設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備還包括:
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的物料識(shí)別設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備還包括:
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的物料識(shí)別設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備還包括:
17.一種機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì),該機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有指令,其特征在于,該指令在被處理器執(zhí)行時(shí)使得所述處理器被配置成執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的物料識(shí)別方法。