9]圖5為本發(fā)明實(shí)施例的芯片篩選裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，該裝置用于從多個芯片中篩選出潛在失效率大的芯片，并且該裝置可以通過軟件代碼的形式嵌入到計(jì)算機(jī)中，用于執(zhí)行上述的芯片篩選方法，當(dāng)然，所述裝置也可以通過硬件或硬件與軟件結(jié)合的方式實(shí)現(xiàn)。所述硬件可以通過集成電路實(shí)現(xiàn)。如圖5所示,該裝置可以包括:求和單元71、歸一單元72、相關(guān)單元73和篩選單元74 ;其中，
[0060]求和單元71，用于計(jì)算待判定芯片的周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)，并將所述周邊范圍內(nèi)的各芯片的第一影響因數(shù)求和得到影響因數(shù)和；所述待判定芯片是晶圓測試中的其中一個良品芯片；
[0061]歸一單元72，用于根據(jù)所述影響因數(shù)和，將所述周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)歸一化，得到每個芯片的第二影響因數(shù)；
[0062]相關(guān)單元73，用于將所述周邊范圍內(nèi)的多個有效芯片的所述第二影響因數(shù)求和，得到所述待判定芯片的周邊芯片相關(guān)因數(shù)NDCF ;每個所述有效芯片為真實(shí)存在且與所述待判定芯片不冋的不良品芯片；
[0063]篩選單元74，用于若所述待判定芯片的所述NDCF滿足預(yù)設(shè)的篩選條件，則確定所述待判定芯片為潛在失效率大的芯片。
[0064]可選的，所述求和單元71，在計(jì)算所述待判定芯片的周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)時，具體用于:利用所述周邊范圍內(nèi)的每個芯片的影響參數(shù)乘以所述每個芯片與所述待判定芯片的距離相關(guān)值，得到所述每個芯片的第一影響因數(shù)。
[0065]進(jìn)一步的，所述求和單元71使用的所述距離相關(guān)值為:每個芯片與所述待判定芯片的距離，或根據(jù)所述距離得到的值。
[0066]可選的，所述周邊范圍內(nèi)的全部芯片的影響參數(shù)相同。
[0067]可選的，所述篩選單元74使用的所述NDCF滿足預(yù)設(shè)的篩選條件包括:所述待判定芯片的所述NDCF大于或等于預(yù)設(shè)閾值。
[0068]所述裝置內(nèi)還可包括一個用于設(shè)定待判定芯片的周邊范圍的單元，該單元可以接收指令來設(shè)置所述周邊范圍，該指令可以是來自本領(lǐng)域技術(shù)人員。該單元也可以自行進(jìn)行所述設(shè)置而不需要外界干涉，本實(shí)施例對此不作限定。
[0069]圖6為本發(fā)明實(shí)施例的芯片篩選裝置的實(shí)體結(jié)構(gòu)示意圖，如圖6所示，該裝置可以包括存儲器91和處理器92，其中，
[0070]存儲器91，用于存儲指令；
[0071]處理器92，用于讀取并執(zhí)行所述存儲器中存儲的指令，在所述指令的驅(qū)動下用于:
[0072]計(jì)算待判定芯片的周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)，并將所述周邊范圍內(nèi)的各芯片的第一影響因數(shù)求和得到影響因數(shù)和；所述待判定芯片是晶圓測試中的其中一個良品芯片;
[0073]根據(jù)所述影響因數(shù)和，將所述周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)歸一化，得到每個芯片的第二影響因數(shù)；
[0074]將所述周邊范圍內(nèi)的多個有效芯片的所述第二影響因數(shù)求和，得到所述待判定芯片的周邊芯片相關(guān)因數(shù)NDCF ;每個所述有效芯片為真實(shí)存在且與所述待判定芯片不同的不良品芯片；
[0075]若所述待判定芯片的所述NDCF滿足預(yù)設(shè)的篩選條件，則確定所述待判定芯片為潛在失效率大的芯片。
[0076]圖5和6及相關(guān)裝置中各單元和模塊執(zhí)行的具體功能可參照之前方法實(shí)施例的描述，具體細(xì)節(jié)在裝置中不重復(fù)贅述。
[0077]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實(shí)現(xiàn)上述各方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成。前述的程序可以存儲于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中。該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述各方法實(shí)施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括:R0M、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。
[0078]最后應(yīng)說明的是:以上各實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述各實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種芯片篩選方法，用于從多個芯片中篩選出潛在失效率大的芯片，其特征在于，包括:計(jì)算待判定芯片的周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)，并將所述周邊范圍內(nèi)的各芯片的第一影響因數(shù)求和得到影響因數(shù)和；所述待判定芯片是晶圓測試中的其中一個良品-H-* I I心片； 根據(jù)所述影響因數(shù)和，將所述周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)歸一化，得到每個芯片的第二影響因數(shù)； 將所述周邊范圍內(nèi)的多個有效芯片的所述第二影響因數(shù)求和，得到所述待判定芯片的周邊芯片相關(guān)因數(shù)NDCF ;每個所述有效芯片為真實(shí)存在且與所述待判定芯片不同的不良品芯片； 若所述待判定芯片的所述NDCF滿足預(yù)設(shè)的篩選條件，則確定所述待判定芯片為潛在失效率大的芯片。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述計(jì)算所述待判定芯片的周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)，包括: 利用所述周邊范圍內(nèi)的每個芯片的影響參數(shù)乘以所述每個芯片與所述待判定芯片的距離相關(guān)值，得到所述每個芯片的第一影響因數(shù)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述每個芯片與所述待判定芯片的距離相關(guān)值為:每個芯片與所述待判定芯片的距離，或根據(jù)所述距離得到的值。4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的方法，其特征在于，所述周邊范圍內(nèi)的全部芯片的影響參數(shù)相同。5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述待判定芯片的所述NDCF滿足預(yù)設(shè)的篩選條件包括:所述待判定芯片的所述NDCF大于或等于預(yù)設(shè)閾值。6.一種芯片篩選裝置，用于從多個芯片中篩選出潛在失效率大的芯片，其特征在于，包括: 求和單元，用于計(jì)算待判定芯片的周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)，并將所述周邊范圍內(nèi)的各芯片的第一影響因數(shù)求和得到影響因數(shù)和；所述待判定芯片是晶圓測試中的其中一個良品芯片； 歸一單元，用于根據(jù)所述影響因數(shù)和，將所述周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)歸一化，得到每個芯片的第二影響因數(shù)； 相關(guān)單元，用于將所述周邊范圍內(nèi)的多個有效芯片的所述第二影響因數(shù)求和，得到所述待判定芯片的周邊芯片相關(guān)因數(shù)NDCF ;每個所述有效芯片為真實(shí)存在且與所述待判定芯片不同的不良品芯片； 篩選單元，用于若所述待判定芯片的所述NDCF滿足預(yù)設(shè)的篩選條件，則確定所述待判定芯片為潛在失效率大的芯片。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于， 所述求和單元，在計(jì)算所述待判定芯片的周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)時，具體用于:利用所述周邊范圍內(nèi)的每個芯片的影響參數(shù)乘以所述每個芯片與所述待判定芯片的距離相關(guān)值，得到所述每個芯片的第一影響因數(shù)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于， 所述求和單元使用的所述距離相關(guān)值為:每個芯片與所述待判定芯片的距離，或根據(jù)所述距離得到的值。9.根據(jù)權(quán)利要求6-8任一所述的裝置，其特征在于，所述周邊范圍內(nèi)的全部芯片的影響參數(shù)相同。10.根據(jù)權(quán)利要求6-9任一所述的裝置，其特征在于， 所述篩選單元使用的所述NDCF滿足預(yù)設(shè)的篩選條件包括:所述待判定芯片的所述NDCF大于或等于預(yù)設(shè)閾值。11.一種芯片篩選裝置，用于從多個芯片中篩選出潛在失效率大的芯片，其特征在于，包括: 存儲器，用于存儲指令； 處理器，執(zhí)行所述存儲器中存儲的指令，用于: 計(jì)算待判定芯片的周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)，并將所述周邊范圍內(nèi)的各芯片的第一影響因數(shù)求和得到影響因數(shù)和；所述待判定芯片是晶圓測試中的其中一個良品-H-* I I心片； 根據(jù)所述影響因數(shù)和，將所述周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)歸一化，得到每個芯片的第二影響因數(shù)； 將所述周邊范圍內(nèi)的多個有效芯片的所述第二影響因數(shù)求和，得到所述待判定芯片的周邊芯片相關(guān)因數(shù)NDCF ;每個所述有效芯片為真實(shí)存在且與所述待判定芯片不同的不良品芯片； 若所述待判定芯片的所述NDCF滿足預(yù)設(shè)的篩選條件，則確定所述待判定芯片為潛在失效率大的芯片。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種芯片篩選方法和裝置，其中方法包括：計(jì)算待判定芯片的周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)，并將所述周邊范圍內(nèi)的各芯片的第一影響因數(shù)求和得到影響因數(shù)和；根據(jù)所述影響因數(shù)和，將所述周邊范圍內(nèi)的每個芯片的第一影響因數(shù)歸一化，得到第二影響因數(shù)；將所述周邊范圍內(nèi)的有效芯片的所述第二影響因數(shù)求和，得到所述待判定芯片的周邊芯片相關(guān)因數(shù)NDCF；若所述待判定芯片的所述NDCF滿足預(yù)設(shè)的篩選條件，則確定所述待判定芯片為潛在失效率大的芯片。本發(fā)明降低了芯片篩選的成本。
【IPC分類】G06F19/00
【公開號】CN105095618
【申請?zhí)枴緾N201410191097
【發(fā)明人】崔禾捷, 張國強(qiáng), 鐘進(jìn)國
【申請人】華為技術(shù)有限公司
【公開日】2015年11月25日
【申請日】2014年5月7日