技術(shù)總結(jié)
一種用于檢測存儲器件中可逆電阻轉(zhuǎn)換元件的設(shè)置過程的裝置，包括：位線，其耦接到可逆電阻轉(zhuǎn)換元件；斜坡變化裝置用于使位線的電壓斜坡上升直到位線的電壓足夠?qū)⒖赡骐娮柁D(zhuǎn)換元件的電阻轉(zhuǎn)換到更低級別；以及檢測裝置其耦接到位線，用于當(dāng)可逆電阻轉(zhuǎn)換元件的電阻轉(zhuǎn)換時進行檢測，其中，斜坡變化裝置包括：運算放大器斜坡上升的電壓被輸入到運算放大器的第一輸入端子，以及具有耦接到運算放大器的柵極的第一晶體管，運算放大器在柵極處提供電壓，第一晶體管的源極處的電壓跟隨在柵極處的電壓；以及檢測裝置包括比較器，比較器具有耦接到第一晶體管的漏極第一輸入端子接收固定參考電壓第二輸入端子。

技術(shù)研發(fā)人員：陳映彰;馬可·卡扎尼加
受保護的技術(shù)使用者：桑迪士克科技有限責(zé)任公司
文檔號碼：201410534704
技術(shù)研發(fā)日：2009.09.23
技術(shù)公布日：2017.11.14