區(qū)域分別設(shè)計(jì)相應(yīng)的壓力算法，并對(duì)其進(jìn)行代碼實(shí)現(xiàn)，其中，在對(duì)壓力算法進(jìn)行代碼實(shí)現(xiàn)時(shí)，需設(shè)計(jì)出能夠?qū)⒏鲏毫λ惴ǖ膲毫Π葱枋┘又料鄳?yīng)解析區(qū)域的地址構(gòu)造函數(shù)。
[0056]由于內(nèi)存滿載測(cè)試的本質(zhì)是盡量讓DDR(Double Data Rate，雙倍速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器)控制器持續(xù)處于工作狀態(tài)，并最大限度的使用代碼制造不利于DDR控制器訪問(wèn)內(nèi)存的情況，測(cè)試在高壓力運(yùn)行條件下，測(cè)試代碼(如本申請(qǐng)中的壓力算法代碼)操作內(nèi)存數(shù)據(jù)是否出錯(cuò)，且測(cè)試代碼需能使用CPU (Central Processing Unit，中央處理器)當(dāng)前所有的處理能力(優(yōu)選在bootloader下進(jìn)行測(cè)試)，因此，所設(shè)計(jì)的各壓力算法及壓力算法代碼實(shí)現(xiàn)中的地址構(gòu)造函數(shù)應(yīng)以上述內(nèi)容為前提，以保證在測(cè)試過(guò)程中盡量使待測(cè)內(nèi)存物理地址的各解析區(qū)域處于高壓、滿載狀態(tài)。
[0057]地址構(gòu)造函數(shù)的執(zhí)行效率和構(gòu)造地址的訪問(wèn)是本發(fā)明模擬系統(tǒng)內(nèi)存壓力極限的關(guān)鍵。更尚的執(zhí)彳丁效率意味著CPU可以更快地訪冋內(nèi)存相關(guān)地址，進(jìn)而可以更快地廣生尚壓力的波形和更高的信號(hào)占空比(即高負(fù)載)，為此，本發(fā)明采用將地址構(gòu)造函數(shù)編譯成匯編代碼以提升執(zhí)行效率。
[0058]實(shí)際應(yīng)用本發(fā)明時(shí)，可采用軟件系統(tǒng)的形式實(shí)現(xiàn)本發(fā)明方法的各步驟處理邏輯。在以上預(yù)處理的基礎(chǔ)上，用戶可在所述軟件系統(tǒng)上通過(guò)相應(yīng)的配置過(guò)程，并觸發(fā)壓力添加請(qǐng)求實(shí)現(xiàn)向待測(cè)內(nèi)存物理地址的各解析區(qū)域配置、關(guān)聯(lián)相應(yīng)的壓力算法。
[0059]S102:將所述壓力算法關(guān)聯(lián)至目標(biāo)解析區(qū)域。
[0060]當(dāng)軟件系統(tǒng)接收到用戶對(duì)相應(yīng)解析區(qū)域的壓力添加請(qǐng)求后，將壓力算法關(guān)聯(lián)至待測(cè)內(nèi)存物理地址的相應(yīng)解析區(qū)域，以實(shí)現(xiàn)為測(cè)試過(guò)程中，調(diào)用所關(guān)聯(lián)的算法為物理地址的相應(yīng)解析區(qū)域施加相應(yīng)負(fù)載提供支持。
[0061]如圖2所示，本實(shí)施例為待測(cè)內(nèi)存的物理地址所包含的5個(gè)解析區(qū)域分別關(guān)聯(lián)了壓力算法1、壓力算法2……壓力算法5。
[0062]S103:在為所述各預(yù)設(shè)解析區(qū)域分別關(guān)聯(lián)相應(yīng)的壓力算法后，接受用戶分別對(duì)各預(yù)設(shè)參數(shù)項(xiàng)所設(shè)定的參數(shù)值；所述各預(yù)設(shè)參數(shù)項(xiàng)為預(yù)先集成的、實(shí)現(xiàn)內(nèi)存測(cè)試所需的參數(shù)項(xiàng)。
[0063]為待測(cè)內(nèi)存物理地址的各解析區(qū)域配置、關(guān)聯(lián)了相應(yīng)的壓力算法之后，需繼續(xù)對(duì)測(cè)試所需的相關(guān)參數(shù)項(xiàng)進(jìn)行取值設(shè)定，合適的參數(shù)設(shè)置和結(jié)果輸出相配合，可更有效地確認(rèn)內(nèi)存的穩(wěn)定性、可靠性等訪問(wèn)性能。
[0064]基于此，本實(shí)施例預(yù)先在所述軟件系統(tǒng)中集成了一系列測(cè)試所需的基本參數(shù)項(xiàng)，例如，是否使用cache、讀寫模型，校驗(yàn)值類型、是否加入DMA (Direct Memory Access，直接內(nèi)存訪問(wèn))等，并在后臺(tái)分別對(duì)所述參數(shù)項(xiàng)的具體內(nèi)容進(jìn)行了代碼實(shí)現(xiàn)，譬如假設(shè)讀寫模型包括 WffRR (Write-Write-Read-Read，寫寫讀讀)和 WRWR(Write-Read_Write-Read，寫讀寫讀)，則在后臺(tái)分別對(duì)WWRR和WRWR這兩個(gè)讀寫模型進(jìn)行了代碼實(shí)現(xiàn)。
[0065]其中，使用cache與否分別為進(jìn)行內(nèi)存滿載測(cè)試所采用的不同的訪問(wèn)測(cè)試模型。使用cache從本質(zhì)上講，即是希望CPU獲取數(shù)據(jù)時(shí)能夠命中cache，以提升數(shù)據(jù)的交換速度，然而若每次訪問(wèn)都未能命中cache，則該機(jī)制非但不會(huì)提升反而會(huì)降低數(shù)據(jù)訪問(wèn)速度。因此，進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試時(shí)，若選擇使用cache，則為了更加有效地測(cè)試內(nèi)存的訪問(wèn)性能，可在實(shí)現(xiàn)代碼時(shí)，盡量使每次數(shù)據(jù)訪問(wèn)都不能命中cache。
[0066]讀寫模型，基本組合包括兩種:WWRR和WRWR。WffRR是讓CPU按照函數(shù)計(jì)算地址后將所有數(shù)據(jù)輪詢寫入，然后再輪詢讀出、校驗(yàn)。WRWR是讓CPU按照函數(shù)計(jì)算地址后馬上寫入當(dāng)前數(shù)據(jù)并隨即讀出來(lái)校驗(yàn)，其他數(shù)據(jù)亦重復(fù)采用即讀即寫的模式。其中，WffRR模型在一段時(shí)間內(nèi)，DDR控制器要么長(zhǎng)期處于讀操作，要么長(zhǎng)期處于寫操作，讀寫交替的周期較長(zhǎng)，因此，讀寫操作的變更不會(huì)對(duì)硬件體現(xiàn)出較大的壓力，而WRWR則可通過(guò)其讀寫操作的不斷變換給硬件帶來(lái)較大壓力，因此，進(jìn)行測(cè)試時(shí)可優(yōu)選采用WRWR模型。
[0067]需要說(shuō)明的是，實(shí)際應(yīng)用本發(fā)明時(shí)，技術(shù)人員可依據(jù)具體的測(cè)試需求，自行設(shè)計(jì)所需的讀寫模型進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試。
[0068]校驗(yàn)值類型包括兩種:定值和隨機(jī)值，其中，定制是指信號(hào)線(數(shù)據(jù)線，地址線)極限反轉(zhuǎn)，隨機(jī)值是指信號(hào)線隨機(jī)反轉(zhuǎn)。在內(nèi)存測(cè)試過(guò)程中，隨機(jī)值會(huì)讓DDR控制器的數(shù)據(jù)線或地址線之間的噪音組合情況更加復(fù)雜，其主要可對(duì)硬件布線帶來(lái)壓力；而定值測(cè)試是根據(jù)burst (突發(fā)脈沖)預(yù)取優(yōu)化措施，設(shè)置的55aa型，它可以讓burst采樣內(nèi)的數(shù)據(jù)線極限反轉(zhuǎn)，對(duì)于DDR控制器對(duì)數(shù)據(jù)線的拉高拉低，有著訪問(wèn)極限的壓力。
[0069]當(dāng)為待測(cè)內(nèi)存物理地址的各解析區(qū)域分別關(guān)聯(lián)相應(yīng)的壓力算法后，用戶可在軟件系統(tǒng)中對(duì)所集成的是否使用cache、讀寫模型、校驗(yàn)值類型、是否加入DMA等各個(gè)參數(shù)項(xiàng)的具體取值進(jìn)行設(shè)定。
[0070]除此之外，本申請(qǐng)還對(duì)內(nèi)存測(cè)試的一些影響因素進(jìn)行了綜合考慮和評(píng)估，包括不兼容評(píng)估、基于DDR類別的節(jié)約功耗方案評(píng)估等。
[0071]不兼容評(píng)估:這是針對(duì)多核的一個(gè)選項(xiàng)，若測(cè)試時(shí)具體是啟動(dòng)多核(多核CPU)進(jìn)行測(cè)試，則需要規(guī)避核間內(nèi)存訪問(wèn)在性能上的沖突，使得多核和核內(nèi)的壓力不至于相互抵消，從而更好地模擬系統(tǒng)壓力。具體地，可通過(guò)對(duì)地址構(gòu)造函數(shù)進(jìn)行相應(yīng)設(shè)計(jì)，例如，將地址構(gòu)造函數(shù)設(shè)計(jì)為選擇訪問(wèn)彼此間壓力不沖突的的物理地址，來(lái)保證在多核運(yùn)行的任何時(shí)亥IJ，不會(huì)彼此抵消各自的壓力。
[0072]基于DDR類別的節(jié)約功耗方案評(píng)估:DDR，DDR2，DDR3協(xié)議中有部分節(jié)約功耗的方案，而節(jié)約功耗的時(shí)間內(nèi)，不能對(duì)電源方案造成壓力，同時(shí)對(duì)高壓力產(chǎn)生的不穩(wěn)定的電平信號(hào)有恢復(fù)作用，不利于壓力的長(zhǎng)時(shí)間產(chǎn)生，因此本發(fā)明使用代碼規(guī)避了節(jié)約功耗狀況的產(chǎn)生。
[0073]S104:接收用戶的內(nèi)存測(cè)試請(qǐng)求，基于所設(shè)定的各預(yù)設(shè)參數(shù)項(xiàng)取值并調(diào)用所關(guān)聯(lián)的各壓力算法進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試。
[0074]在以上各步驟的基礎(chǔ)上，用戶可在軟件系統(tǒng)上執(zhí)行相應(yīng)操作，來(lái)觸發(fā)內(nèi)存測(cè)試請(qǐng)求，開(kāi)始內(nèi)存測(cè)試；當(dāng)軟件系統(tǒng)接收到用戶請(qǐng)求后，基于所設(shè)定的各參數(shù)項(xiàng)取值(如啟動(dòng)所選的讀寫模型)，調(diào)用、執(zhí)行所關(guān)聯(lián)的各壓力算法模擬系統(tǒng)內(nèi)存的滿負(fù)載壓力，并通過(guò)地址構(gòu)造函數(shù)訪問(wèn)內(nèi)存，實(shí)現(xiàn)內(nèi)存測(cè)試。
[0075]測(cè)試過(guò)程中，用戶可通過(guò)觀測(cè)內(nèi)存的各項(xiàng)指標(biāo)，如讀寫是否出錯(cuò)，出錯(cuò)時(shí)間(即測(cè)試多長(zhǎng)時(shí)間后出錯(cuò))等，來(lái)評(píng)估系統(tǒng)內(nèi)存的穩(wěn)定性、可靠性等訪問(wèn)性能。
[0076]由以上方案可知，本發(fā)明接收用戶的壓力添加請(qǐng)求，該請(qǐng)求包括壓力算法和目標(biāo)解析區(qū)域，所述目標(biāo)解析區(qū)域?yàn)榇郎y(cè)內(nèi)存的物理地址所包含的各個(gè)預(yù)設(shè)解析區(qū)域中的任意一個(gè)區(qū)域；之后，將所述壓力算法關(guān)聯(lián)至所述目標(biāo)解析區(qū)域；在為各預(yù)設(shè)解析區(qū)域分別關(guān)聯(lián)相應(yīng)的壓力算法后，接受用戶分別對(duì)預(yù)先集成的各預(yù)設(shè)參數(shù)項(xiàng)所設(shè)定的參數(shù)值；在此基礎(chǔ)上，接收用戶的內(nèi)存測(cè)試請(qǐng)求，基于所設(shè)定的各參數(shù)值，并調(diào)用所關(guān)聯(lián)的各壓力算法進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試?？梢?jiàn)，本發(fā)明可通過(guò)軟件模擬系統(tǒng)內(nèi)存滿負(fù)載運(yùn)行的具體場(chǎng)景，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)內(nèi)存滿載測(cè)試，不需專門的硬件設(shè)備，成本低、代價(jià)小，為內(nèi)存滿載測(cè)試的展開(kāi)和實(shí)施帶來(lái)了便利。
[0077]實(shí)施例二
[0078]本實(shí)施例二中，參考圖3，所述方法還可以包括以下步驟:
[0079]S105:為待測(cè)內(nèi)存所在的印制電路板PCB配置預(yù)設(shè)的溫濕度環(huán)境，以實(shí)現(xiàn)在預(yù)設(shè)的溫濕度環(huán)境下測(cè)試內(nèi)存。
[0080]本實(shí)施例在運(yùn)行代碼(如壓力算法的代碼等)進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試的同時(shí)，結(jié)合硬件，如溫濕度試驗(yàn)箱向待測(cè)內(nèi)存所在的PCB板施加一定的溫、濕度環(huán)境，以驗(yàn)證具體溫、濕度環(huán)境下PCB板內(nèi)存是否穩(wěn)定、可靠，是否達(dá)到預(yù)期標(biāo)準(zhǔn)。
[0081]實(shí)施例三
[0082]本實(shí)施例三中，參考圖4，所述方法還可以包括以下步驟:
[0083]S106:采集預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)線及預(yù)設(shè)時(shí)鐘線的電壓信號(hào)，并顯示所采集電壓信號(hào)的電壓波形，以供用戶依據(jù)所顯示的電壓波形驗(yàn)證滿負(fù)載內(nèi)存測(cè)試的有效性。
[0084]其中，所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)線及預(yù)設(shè)時(shí)鐘線分別為連接DDR控制器與待測(cè)內(nèi)存的數(shù)據(jù)線、時(shí)鐘線。
[0085]本實(shí)施例通過(guò)考察預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)線及時(shí)鐘線的采樣波形，對(duì)本發(fā)明模擬系統(tǒng)內(nèi)存滿負(fù)載壓力測(cè)試的有效性進(jìn)行驗(yàn)證，參考圖5，圖5為數(shù)據(jù)線極限反轉(zhuǎn)時(shí)示波器上信號(hào)波形的截圖。其中，粉紅色是數(shù)據(jù)線O的信號(hào)波形，淺綠色是數(shù)據(jù)線O對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘信號(hào)的信號(hào)波形(即時(shí)鐘線的信號(hào)波形)；橫、縱坐標(biāo)分別為時(shí)間、電壓；配置參數(shù)為:非cache，WWRR，數(shù)據(jù)線定值檢測(cè)(0x55，Oxaa)，地址線隨機(jī)檢測(cè)。
[0086]由圖5可以看出，沒(méi)有采樣波形的時(shí)候，數(shù)據(jù)線和時(shí)鐘線都是大波動(dòng)趨于穩(wěn)定的，此現(xiàn)象說(shuō)明本申請(qǐng)?jiān)跁r(shí)序上盡可能地造成了采樣波形的不穩(wěn)定性，由此可知，本申請(qǐng)模擬的內(nèi)存負(fù)載在內(nèi)存時(shí)序上是非常有效的；同時(shí)，圖5中采樣波形的占空比較大，表征所模擬的內(nèi)存負(fù)載已接近于系統(tǒng)極限，從而證明本申請(qǐng)可有效模擬系統(tǒng)內(nèi)存滿載運(yùn)行。
[0087]此外，由圖5還可以發(fā)現(xiàn)，在數(shù)據(jù)線的采樣波形中，數(shù)據(jù)線O—