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盤儲存裝置及調(diào)整頭盤干涉?zhèn)鞲衅鏖撝档姆椒?

文檔序號:8431791閱讀:472來源:國知局
盤儲存裝置及調(diào)整頭盤干涉?zhèn)鞲衅鏖撝档姆椒?br>【專利說明】盤儲存裝置及調(diào)整頭盤干涉?zhèn)鞲衅鏖撝档姆椒?br>[0001]本申請以美國臨時專利申請61/922364號(申請日:2013年12月31日)為基礎(chǔ)并享受其優(yōu)先權(quán)。本申請通過參照該在先申請而包括其全部內(nèi)容。
技術(shù)領(lǐng)域
[0002]本發(fā)明涉及盤儲存裝置及調(diào)整頭盤干涉?zhèn)鞲衅鏖撝档姆椒ā?br>【背景技術(shù)】
[0003]近年來,盤存儲裝置的記錄密度正在顯著提高。作為盤存儲裝置的代表,已知有硬盤驅(qū)動器(HDD)。為了在HDD中實現(xiàn)高密度記錄,而需要以磁頭不接觸磁盤(磁盤介質(zhì))的程度來使該磁頭盡可能接近磁盤的表面。即、磁頭(以下簡稱頭)和磁盤(以下簡稱盤)之間的距離(間距)需要非常小。
[0004]這樣,在低間距化發(fā)展時,引發(fā)飛高寫入(high-fly write)障礙的可能性增高。HFff障礙指以比通常設(shè)定的間距高的間距由頭向盤寫入的現(xiàn)象。作為頭的間距(即、頭浮起高度)變高的原因,可舉出該頭與盤上的突起、潤滑膜或潤滑脂(更具體地,為飛散到盤上的潤滑脂)接觸而使該頭振動。此外,在頭與盤的表面接觸的情況下,該頭振動。
[0005]為了防止HFW障礙的發(fā)生,需要檢測頭浮起高度變高的現(xiàn)象、例如頭的振動。在檢測該頭的振動時,一直以來使用頭盤干涉?zhèn)鞲衅?。頭盤干涉?zhèn)鞲衅饕脖环Q為頭盤干擾傳感器。頭盤干擾傳感器(下面,稱為HDI傳感器)與寫入元件及讀取元件同樣地搭載于頭(更具體地,為頭滑動塊)上來使用。HDI傳感器電檢測在頭和盤之間作用的干涉(即、相互作用)、例如(熱學(xué)干涉)。
[0006]HDI傳感器以從交流(AC)模式及直流(DC)模式中選擇的模式檢測在頭和盤之間作用的干涉。通常,在需要檢測頭的振動(即、搖動)的情況下,將HDI傳感器以AC模式使用。HDI傳感器在AC模式中檢測在頭和盤之間作用的干涉的AC分量(成分)。HDD的主控制器通過將HDI傳感器的輸出(即、由HDI檢測到的頭盤干涉的AC分量)與閾值(以下稱為HDI傳感器閾值)進(jìn)行比較來判斷頭的振動是否較大。主控制器至少基于該判斷的結(jié)果來重試?yán)珙^所進(jìn)行的對盤的數(shù)據(jù)寫入。
[0007]在現(xiàn)有技術(shù)中,HDI傳感器閾值在制造HDD的工序中的測試工序中決定并被設(shè)定。然而,HDI傳感器的特性(特別地,HDI傳感器的電阻)隨著時間的經(jīng)過而變化。因此,在固定地使用在測試工序中決定的HDI傳感器閾值的情況下,HDI傳感器的特性變化對AC模式中的該HDI傳感器的HDI (頭盤干涉)檢測能力產(chǎn)生較大影響。此外,通常狀態(tài)下的頭浮起高度隨著時間的經(jīng)過而變化。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明提供能動態(tài)地調(diào)整HDI傳感器閾值的盤儲存裝置及調(diào)整頭盤干涉?zhèn)鞲衅鏖撝档姆椒ā?br>[0009]實施方式的盤儲存裝置具備盤、滑動塊及控制器。所述盤具有多個軌道。所述滑動塊構(gòu)成為在所述盤上浮起,且具備頭,該頭具有寫入元件、讀取元件及HDI傳感器。所述HDI傳感器構(gòu)成為在交流模式中檢測在所述頭和所述盤之間作用的干涉的交流分量。所述控制器構(gòu)成為基于所述檢測的交流分量和HDI傳感器閾值來至少檢測所述頭的振動的異常。所述控制器還構(gòu)成為分別測定所述HDI傳感器的特性及所述頭的浮起高度,且根據(jù)所述測定的結(jié)果來調(diào)整所述HDI傳感器閾值。
【附圖說明】
[0010]圖1是表示實施方式涉及的硬盤驅(qū)動器(HDD)的典型構(gòu)成的框圖。
[0011]圖2是表示圖1所示的滑動塊的平面及側(cè)面的示意圖。
[0012]圖3是表示圖1所示的頭的浮起高度的歷時變化的例子的圖。
[0013]圖4是表示在同一實施方式中適用的HDI傳感器電阻測定處理的步驟的流程圖。
[0014]圖5是表示在同一實施方式中適用的浮起高度監(jiān)視數(shù)據(jù)讀取處理的步驟的流程圖。
[0015]圖6是表示在同一實施方式中適用的HDI閾值調(diào)整處理的步驟的流程圖。
【具體實施方式】
[0016]下面參照附圖來說明本發(fā)明的實施方式。
[0017]圖1是表示實施方式涉及的硬盤驅(qū)動器(HDD)的典型構(gòu)成的框圖。HDD作為盤儲存裝置的代表而被知曉,也被稱為磁盤驅(qū)動器。HDD (更具體地,為HDD內(nèi)的HDC172)經(jīng)主機接口(存儲器接口)21而與主機裝置(在下面稱為主機)連接。主機將HDD用作自身的存儲器件。主機及HDD可裝備于個人計算機、攝像機、音樂播放器、移動終端、移動電話或打印機裝置那樣的電子設(shè)備中。
[0018]HDD包括:盤(磁盤)11 ;滑動塊(頭滑動塊)12 ;主軸電機(SPM) 13 ;促動器14 ;伺服控制器(SVC) 15 ;前置放大器16 ;主控制器17 ;快閃只讀存儲器(內(nèi)存)(FROM) 18 ;隨機存取存儲器(RAM) 19 ;和溫度傳感器20。盤11例如在其一個面具備磁記錄數(shù)據(jù)的記錄面。盤11通過SPM13而高速旋轉(zhuǎn)。SPM13由從SVC15供給的驅(qū)動電流(或驅(qū)動電壓)驅(qū)動。
[0019]盤11 (更具體地,盤11的記錄面)具備例如同心圓狀的多個軌道。再有,盤11也可具備螺旋狀地配置的多個軌道。多個軌道的每個具備離散地配置的多個伺服區(qū)域(即、伺服扇區(qū))。在多個伺服區(qū)域的每個,記錄有伺服數(shù)據(jù)(伺服數(shù)據(jù)信號)。眾所周知,伺服數(shù)據(jù)包括伺服標(biāo)志、地址數(shù)據(jù)及伺服成組數(shù)據(jù)(寸一一 7卜7—夕)。在多個軌道的每個,相鄰的伺服區(qū)域之間用作用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。用戶數(shù)據(jù)區(qū)域具備多個數(shù)據(jù)扇區(qū)。
[0020]盤11具備包括多個軌道的系統(tǒng)區(qū)域。系統(tǒng)區(qū)域是系統(tǒng)(例如,主控制器17)使用的存儲區(qū)域、即用戶不能識別的存儲區(qū)域。盤11的用戶可使用的區(qū)域被稱為用戶區(qū)域。即、用戶區(qū)域是用戶能識別的存儲區(qū)域。盤11還具備與系統(tǒng)區(qū)域不同的、用戶不能識別的特別的同心圓狀區(qū)域(在下面稱為浮起高度監(jiān)視區(qū)域)。浮起高度監(jiān)視區(qū)域具備多個軌道。在浮起高度監(jiān)視區(qū)域內(nèi)的例如中周的軌道(第一軌道)的各數(shù)據(jù)扇區(qū),記錄有用于監(jiān)視頭浮起高度(更具體地,為后述的頭120的浮起高度)的特別的數(shù)據(jù)圖形(第一數(shù)據(jù)圖形)、即浮起高度監(jiān)視數(shù)據(jù)(在下面稱為THM數(shù)據(jù))。于是,將該軌道稱為THM數(shù)據(jù)軌道。THM數(shù)據(jù)由被稱為212T的公知的數(shù)據(jù)圖形構(gòu)成,且因耐熱松弛(熱緩和)而眾所共知。
[0021]滑動塊(浮動塊)12與盤11的記錄面對應(yīng)地配置?;瑒訅K12安裝于從促動器14的臂伸出的懸架的前端。促動器14具有作為該促動器14的驅(qū)動源發(fā)揮作用的音圈電機(VCM) 140。VCM140由從SVC15供給的驅(qū)動電流驅(qū)動?;瑒訅K12通過由VCM140驅(qū)動促動器14而在盤11上移動以在該盤11的半徑方向上描繪圓弧。
[0022]圖2是表示圖1所示的滑動塊12的平面和側(cè)面的示意圖。在滑動塊12的一端,形成有頭元件部120。頭元件部120包括寫入元件121、讀取元件122、加熱器元件123及HDI傳感器124。
[0023]寫入元件121通過根據(jù)從前置放大器16供給的寫入電流產(chǎn)生磁場來改變盤11上的對應(yīng)位置的磁極。這樣,將與寫入電流對應(yīng)的數(shù)據(jù)寫入(記錄于)盤11。即、寫入元件121用于向盤11寫入數(shù)據(jù)。
[0024]讀取元件122檢測從盤11上的對應(yīng)位置的磁極產(chǎn)生的磁場,以將該檢測到的磁場轉(zhuǎn)換為電信號。這樣,讀取元件122讀取記錄于盤11的數(shù)據(jù)。即、讀取元件122用于從盤11讀取數(shù)據(jù)。
[0025]加熱器元件123是例如電阻性發(fā)熱元件,通過從前置放大器16向該加熱器元件123供給電力(熱能)而發(fā)熱。通過該加熱器元件123的發(fā)熱,而使包括該加熱器元件123的頭元件部120熱變形,并向盤11的表面突出。通過改變該突出量(更具體地,為決定突出量的熱能),來調(diào)整頭元件部120和盤11 (更具體地,為盤11的表面)之間的間距(浮起高度)。在以下的說明中,將該頭元件部120簡稱為頭120。S卩、滑動塊12具備頭120。再有,滑動塊12整體有時也被稱為頭。
[0026]HDI傳感器124具備例如磁阻效果型(MR)元件。MR元件公知為阻值相對于溫度的變化較大的元件。HDI傳感器124電檢測在該HDI傳感器124 (包括HDI傳感器124的頭120)和盤11之間作用的干涉(即、相互作用)。更詳細(xì)描述為,HDI傳感器124以從AC模式及DC模式中選擇的模式使用MR元件來檢測在頭120和盤11之間作用的熱干涉。
[0027]在需要檢測頭120的振動(搖動)的情況下,以AC模式使用HDI傳感器124。HDI傳感器124在AC模式中檢測在頭120和盤11之間作用的熱干涉的AC分量。
[0028]再參照圖1來對HDD的構(gòu)成進(jìn)行說明。SVC15根據(jù)主控制器17 (更具體地,為主控制
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