1.一種半導(dǎo)體光罩霧化檢測(cè)控制方法，其特征在于，所述方法包括：
識(shí)別未使用的半導(dǎo)體光罩的類型，并獲取所識(shí)別的半導(dǎo)體光罩的閑置時(shí)間；
根據(jù)所述半導(dǎo)體光罩的類型，判斷所述半導(dǎo)體光罩的閑置時(shí)間是否大于預(yù)設(shè)的安全時(shí)間；
若所述半導(dǎo)體光罩的閑置時(shí)間大于所述預(yù)設(shè)的安全時(shí)間，則發(fā)出用于提示用戶對(duì)所述半導(dǎo)體光罩進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)的提示消息，并中斷派工作業(yè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述半導(dǎo)體光罩的類型包括蘇打光罩類型、石英光罩類型和雙擴(kuò)散金屬-氧化物-半導(dǎo)體DMOS光罩類型。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述識(shí)別未使用的半導(dǎo)體光罩的類型，包括：
根據(jù)所述半導(dǎo)體光罩的光罩原材料類型標(biāo)識(shí)或產(chǎn)品標(biāo)識(shí)，判斷所述半導(dǎo)體光罩的類型為蘇打光罩類型或DMOS光罩類型。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述半導(dǎo)體光罩的類型，判斷所述半導(dǎo)體光罩的閑置時(shí)間是否大于預(yù)設(shè)的安全時(shí)間，包括：
若所述半導(dǎo)體光罩的類型為蘇打光罩類型，則判斷所述蘇打光罩的閑置時(shí)間是否大于第一預(yù)設(shè)安全時(shí)間；
若所述半導(dǎo)體光罩的類型為DMOS光罩類型，則判斷所述DMOS光罩的閑置時(shí)間是否大于第二預(yù)設(shè)安全時(shí)間。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述若所述半導(dǎo)體光罩的閑置時(shí)間大于所述預(yù)設(shè)的安全時(shí)間，則發(fā)出用于提示用戶對(duì)所述半導(dǎo)體光罩進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)的提示消息，包括：
若蘇打光罩的閑置時(shí)間大于第一預(yù)設(shè)安全時(shí)間，則發(fā)出用于提示用戶對(duì)所述蘇打光罩進(jìn)行霧化檢驗(yàn)的提示消息；
若DMOS光罩的閑置時(shí)間大于第二預(yù)設(shè)安全時(shí)間，則發(fā)出用于提示用戶對(duì)所述DMOS光罩進(jìn)行版缺陷檢驗(yàn)的提示消息。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述若所述半導(dǎo)體光罩的閑置時(shí)間大于所述預(yù)設(shè)的安全時(shí)間，則發(fā)出用于提示用戶對(duì)所述半導(dǎo)體光罩進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)的提示消息，并中斷派工作業(yè)的步驟之后，還包括：
若所述半導(dǎo)體光罩通過所述質(zhì)量檢驗(yàn)，則釋放所述半導(dǎo)體光罩。
7.一種半導(dǎo)體光罩霧化檢測(cè)控制系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括：
識(shí)別單元，用于識(shí)別未使用的半導(dǎo)體光罩的類型，并獲取所識(shí)別的半導(dǎo)體光罩的閑置時(shí)間；
判斷單元，用于根據(jù)所述半導(dǎo)體光罩的類型，判斷所述半導(dǎo)體光罩的閑置時(shí)間是否大于預(yù)設(shè)的安全時(shí)間；
提示單元，用于當(dāng)所述半導(dǎo)體光罩的閑置時(shí)間大于所述預(yù)設(shè)的安全時(shí)間時(shí)，發(fā)出用于提示用戶對(duì)所述半導(dǎo)體光罩進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)的提示消息，并中斷派工作業(yè)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述半導(dǎo)體光罩的類型包括蘇打光罩類型、石英光罩類型和雙擴(kuò)散金屬-氧化物-半導(dǎo)體DMOS光罩類型。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述識(shí)別單元，具體用于：
根據(jù)所述半導(dǎo)體光罩的光罩原材料類型標(biāo)識(shí)或產(chǎn)品標(biāo)識(shí)，判斷所述半導(dǎo)體光罩的類型為蘇打光罩類型或DMOS光罩類型。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述判斷單元，具體用于：
若所述半導(dǎo)體光罩的類型為蘇打光罩類型，則判斷所述蘇打光罩 的閑置時(shí)間是否大于第一預(yù)設(shè)安全時(shí)間；
若所述半導(dǎo)體光罩的類型為DMOS光罩類型，則判斷所述DMOS光罩的閑置時(shí)間是否大于第二預(yù)設(shè)安全時(shí)間。