1.一種帶失調(diào)電壓測(cè)試和校正的軌到軌參考電壓比較器，其特征在于：包括輸入控制邏輯、失調(diào)控制邏輯和混合折疊式共源共柵結(jié)構(gòu)。
2.如權(quán)利要求1所述的比較器，其特征在于：包括失調(diào)電壓測(cè)試和正常工作兩種模式；
在測(cè)試模式下，輸入控制邏輯使得比較器參考電壓輸入端與輸出端短接，實(shí)現(xiàn)對(duì)輸入電壓跟隨功能，通過(guò)配置失調(diào)控制邏輯和混合折疊式共源共柵結(jié)構(gòu)，獲得不同差分輸入對(duì)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的失調(diào)電壓校正精度和校正范圍；
在正常工作模式下，輸入控制邏輯關(guān)閉測(cè)試通路，開啟VREF到比較器參考電壓輸入端的工作通路，同時(shí)通過(guò)配置失調(diào)控制邏輯對(duì)比較器失調(diào)電壓進(jìn)行校正，實(shí)現(xiàn)比較器在零輸入失調(diào)條件下正常工作。
3.如權(quán)利要求1所述的輸入控制邏輯，其特征在于：包括VREF的輸入Buffer、測(cè)試模式和正常工作模式的選通邏輯；其中輸入Buffer實(shí)現(xiàn)對(duì)輸入?yún)⒖茧妷篤REF的隔離，降低比較器正常工作時(shí)參考電壓輸入端的寄生效應(yīng)對(duì)參考電壓產(chǎn)生模塊的零極點(diǎn)分布特性的影響，保證參考電壓的穩(wěn)定性；選通邏輯實(shí)現(xiàn)對(duì)比較器差分輸入對(duì)管、測(cè)試模式和正常工作模式的控制。
4.如權(quán)利要求3所述的選通邏輯，其特征在于：當(dāng)測(cè)試模式使能時(shí)，TEST_EN信號(hào)為高電平，使得VREF的輸入通路斷開，配置差分輸入對(duì)管的選擇信號(hào)SEL_N和SEL_P實(shí)現(xiàn)不同差分輸入對(duì)管的比較器的參考電壓輸入端與其輸出端短接，實(shí)現(xiàn)輸入電壓跟隨功能；當(dāng)正常工作模式使能時(shí)，TEST_EN信號(hào)為低電平，使得VOUT與參考電壓輸入端的連接斷開，配置差分輸入對(duì)管選擇信號(hào)SEL_N和SEL_P實(shí)現(xiàn)比較器的參考電壓輸入端選擇VREF信號(hào)，通過(guò)比較輸入信號(hào)和參考信號(hào)的電壓值產(chǎn)生相應(yīng)的輸出，實(shí)現(xiàn)比較器的正常工作。
5.如權(quán)利要求1所述的失調(diào)控制邏輯，其特征在于：包括選通開關(guān)和Nbit數(shù)控電阻；其中當(dāng)選擇PMOS差分輸入對(duì)管的折疊式共源共柵結(jié)構(gòu)時(shí)，S6開關(guān)閉合，通過(guò)控制S3/S3_N、S4/S4_N以及Nbit數(shù)控電阻實(shí)現(xiàn)對(duì)比較器正負(fù)失調(diào)電壓的校正精度和范圍的測(cè)試（測(cè)試模式）、校正（正常工作模式）；當(dāng)選擇NMOS差分輸入對(duì)管的折疊式共源共柵結(jié)構(gòu)時(shí)，S5開關(guān)閉合，通過(guò)控制S1/S1_N、S2/S2_N以及Nbit數(shù)控電阻實(shí)現(xiàn)對(duì)比較器正負(fù)失調(diào)電壓的校正精度和范圍的測(cè)試（測(cè)試模式）、校正（正常工作模式）。
6.如權(quán)利要求1所述的混合折疊式共源共柵結(jié)構(gòu)，其特征在于：根據(jù)比較器參考電壓的工作范圍選擇合適的差分輸入對(duì)，實(shí)現(xiàn)比較器全參考電壓范圍工作。