本技術(shù)涉及天線，特別涉及一種定向天線測試方法、裝置、系統(tǒng)、芯片及介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、空中下載(over-the-air，ota)指標(biāo)是衡量電子產(chǎn)品射頻通信能力的關(guān)鍵指標(biāo)，通常在電磁暗室中測量。

2、當(dāng)前業(yè)界針對全向天線已經(jīng)具備了相對成熟的測量方法，這些方法通過三維全向采樣可以近似測量全向天線的ota指標(biāo)。但這些方法并不適用于描述定向天線的性能，這是因為對于定向天線，主要關(guān)心定向天線在特定球冠區(qū)域內(nèi)的ota指標(biāo)。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本技術(shù)提供了一種定向天線測試方法、裝置、系統(tǒng)、芯片及介質(zhì)，通過先尋找定向天線實際的最大輻射方向，并據(jù)此測量定向天線在相應(yīng)球冠區(qū)域內(nèi)的ota指標(biāo)，則適用于描述定向天線的性能。

2、第一方面，本技術(shù)實施例提供一種定向天線測試方法，包括：根據(jù)對電子設(shè)備中定向天線的最大輻射方向的仿真結(jié)果(或稱仿真標(biāo)準(zhǔn)0°)，測量定向天線在第一球冠上多個采樣點處的輻射功率，以獲得多個第一輻射功率，其中，第一球冠為對應(yīng)仿真結(jié)果的球冠；根據(jù)多個第一輻射功率中的最大值，獲取對最大輻射方向的實測結(jié)果(或稱實測標(biāo)準(zhǔn)0°)；測量定向天線在第二球冠上多個采樣點處的ota指標(biāo)，其中，第二球冠為對應(yīng)實測結(jié)果的球冠，第一球冠上采樣點間的間隔大于或者等于第二球冠上采樣點間的間隔。

3、該定向天線測試方法通過先基于定向天線的最大輻射方向的仿真標(biāo)準(zhǔn)0°尋找實測標(biāo)準(zhǔn)0°，再基于實測標(biāo)準(zhǔn)0°高精度測量該方向附近球冠區(qū)域內(nèi)采樣點的ota指標(biāo)，能夠?qū)崿F(xiàn)對定向天線的ota測量，則可適用于描述定向天線的性能。

4、可選地，根據(jù)多個第一輻射功率中的最大值，獲取對最大輻射方向的實測結(jié)果，包括：根據(jù)多個第一輻射功率中的最大值，測量定向天線在第三球冠上多個采樣點處的輻射功率，以獲得多個第二輻射功率，其中，第一球冠上采樣點間的間隔大于第三球冠上采樣點間的間隔；其中，第三球冠為對應(yīng)目標(biāo)輻射方向的球冠，目標(biāo)輻射方向為定向天線在多個第一輻射功率中最大值所對應(yīng)采樣點處的輻射方向；獲取定向天線在多個第二輻射功率中最大值所對應(yīng)采樣點處的輻射方向，以作為實測結(jié)果。

5、通過先基于仿真標(biāo)準(zhǔn)0°粗掃，再基于粗掃結(jié)果反映的最大輻射方向進(jìn)行細(xì)掃，可以獲得高精準(zhǔn)度的實測標(biāo)準(zhǔn)0°，故有助于在準(zhǔn)確獲取實測標(biāo)準(zhǔn)0°的前提下降低測量次數(shù)。此外，通過基于高精準(zhǔn)度的實測標(biāo)準(zhǔn)0°掃描來得到定向天線的ota測量結(jié)果，可以準(zhǔn)確的測試定向天線的性能。

6、可選地，第二球冠上采樣點間的間隔等于第三球冠上采樣點間的間隔；測量定向天線在第二球冠上多個采樣點處的ota指標(biāo)，包括：測量位于第二球冠上且沒有位于第三球冠上的采樣點處的輻射功率；其中，同時位于第二球冠和第三球冠上的采樣點處的輻射功率不重復(fù)測量。

7、通過非重復(fù)采樣測量，可以在準(zhǔn)確測試定向天線性能的前提下，節(jié)約測試過程用時。

8、可選地，第一球冠的球心角為定向天線的主波瓣寬度。如此，基于仿真粗掃結(jié)果可以獲得較低精準(zhǔn)度的實測標(biāo)準(zhǔn)0°，該較低精準(zhǔn)度的實測標(biāo)準(zhǔn)0°能夠基本反映定向天線實際的最大輻射方向，且粗掃范圍無需過大以避免非必要輻射方向上的采樣。

9、可選地，定向天線測試方法還包括：根據(jù)仿真結(jié)果，測量定向天線在第一球冠上多個采樣點處的接收靈敏度；若測量得到的每一接收靈敏度均滿足靈敏度要求，則執(zhí)行根據(jù)多個第一輻射功率中的最大值，獲取對最大輻射方向的實測結(jié)果的步驟。

10、通過根據(jù)仿真標(biāo)準(zhǔn)0°測量相應(yīng)球冠上各采樣點的接收靈敏度，可據(jù)此進(jìn)行底線判決，以判決定向天線是否有在某一輻射方向上的接收靈敏度過低的問題，如此可簡化測試過程，以及有助于對定向天線性能的準(zhǔn)確測試。

11、可選地，第一球冠上采樣點間的間隔大于第二球冠上采樣點間的間隔；根據(jù)多個第一輻射功率中的最大值，獲取對最大輻射方向的實測結(jié)果，包括：若多個第一輻射功率中存在不止一個最大值，則從不止一個最大值所對應(yīng)采樣點中，確定出距離仿真結(jié)果最近的采樣點；根據(jù)定向天線在最近的采樣點處的輻射方向，獲取實測結(jié)果。

12、仿真標(biāo)準(zhǔn)0°和定向天線實際的最大輻射方向通常相差不大，通過基于該距離仿真結(jié)果最近的采樣點來獲取實測標(biāo)準(zhǔn)0°，則有助于獲得更為準(zhǔn)確的實測標(biāo)準(zhǔn)0°。

13、可選地，電子設(shè)備位于電磁暗室中，電磁暗室包括呈環(huán)形依次分布的多個極化天線；其中，定向天線位于環(huán)形的中心位置處、以及位于空間坐標(biāo)系的原點，空間坐標(biāo)系包括第一坐標(biāo)軸、第二坐標(biāo)軸和第三坐標(biāo)軸；用于測量定向天線在任一采樣點處的輻射功率的步驟包括：控制定向天線的位姿，以使定向天線與所使用的極化天線間的相對位置關(guān)系符合采樣點的空間坐標(biāo)；其中，空間坐標(biāo)包括原點和采樣點的連線在目標(biāo)平面上的投影與第一坐標(biāo)軸間的第一夾角、原點和采樣點的連線與第三坐標(biāo)軸間的第二夾角；目標(biāo)平面為第一坐標(biāo)軸和第二坐標(biāo)軸所在的平面；通過所使用的極化天線，測量定向天線在采樣點處的輻射功率。

14、通過根據(jù)采樣點的空間坐標(biāo)對應(yīng)改變定向天線的位姿，則無需改變環(huán)形極化天線的設(shè)置位置，即可實現(xiàn)對球冠上各個采樣點的遍歷。

15、可選地，電磁暗室還包括轉(zhuǎn)臺和搖擺器，其中，搖擺器可搖擺的最大角度大于或者等于相鄰極化天線間的圓心角的一半；轉(zhuǎn)臺用于通過帶動定向天線轉(zhuǎn)動，以改變定向天線的最大輻射方向在目標(biāo)平面上的投影與第一坐標(biāo)軸間的夾角；搖擺器用于通過帶動定向天線擺動，以改變定向天線的最大輻射方向與第三坐標(biāo)軸間的夾角；控制定向天線的位姿，以使定向天線與所使用的極化天線間的相對位置關(guān)系符合采樣點的空間坐標(biāo)，包括：根據(jù)采樣點的空間坐標(biāo)中的第一夾角，控制轉(zhuǎn)臺的旋轉(zhuǎn)角度；根據(jù)采樣點的空間坐標(biāo)中的第二夾角，控制搖擺器的擺動角度、對所使用極化天線的維持或切換。

16、通過根據(jù)采樣點的空間坐標(biāo)，控制轉(zhuǎn)臺的轉(zhuǎn)動角度、搖擺器的搖擺角度、以及所使用的極化天線的切換，可使得所使用的極化天線與定向天線間的相對位置關(guān)系符合采樣點的空間坐標(biāo)，從而可實現(xiàn)對球冠上各個采樣點的遍歷。

17、第二方面，本技術(shù)實施例提供一種定向天線測試裝置，包括：第一測量模塊，用于根據(jù)對電子設(shè)備中定向天線的最大輻射方向的仿真結(jié)果，測量定向天線在第一球冠上多個采樣點處的輻射功率，以獲得多個第一輻射功率，其中，第一球冠為對應(yīng)仿真結(jié)果的球冠；獲取模塊，用于根據(jù)多個第一輻射功率中的最大值，獲取對最大輻射方向的實測結(jié)果；第二測量模塊，用于測量定向天線在第二球冠上多個采樣點處的ota指標(biāo)，其中，第二球冠為對應(yīng)實測結(jié)果的球冠，第一球冠上采樣點間的間隔大于或者等于第二球冠上采樣點間的間隔。

18、第三方面，本技術(shù)實施例提供一種定向天線測試裝置，包括：用于存儲計算機(jī)程序指令的一個或多個存儲器、以及一個或多個處理器，其中，當(dāng)計算機(jī)程序指令被一個或多個處理器執(zhí)行時，觸發(fā)定向天線測試裝置執(zhí)行如上述第一方面中任一項的方法。

19、第四方面，本技術(shù)實施例提供一種定向天線測試系統(tǒng)，包括：電磁暗室、以及如上述第二方面或第三方面的定向天線測試裝置；其中，電磁暗室包括呈環(huán)形依次分布的多個極化天線；電磁暗室用于放置電子設(shè)備，使得電子設(shè)備中的定向天線位于環(huán)形的中心位置處、以及位于空間坐標(biāo)系的原點，空間坐標(biāo)系包括第一坐標(biāo)軸、第二坐標(biāo)軸和第三坐標(biāo)軸；定向天線測試裝置測量定向天線在任一采樣點處的輻射功率的步驟包括：控制定向天線的位姿，以使定向天線與所使用的極化天線間的相對位置關(guān)系符合采樣點的空間坐標(biāo)；其中，空間坐標(biāo)包括原點和采樣點的連線在目標(biāo)平面上的投影與第一坐標(biāo)軸間的第一夾角、原點和采樣點的連線與第三坐標(biāo)軸間的第二夾角；目標(biāo)平面為第一坐標(biāo)軸和第二坐標(biāo)軸所在的平面；通過所使用的極化天線，測量定向天線在采樣點處的輻射功率。

20、可選地，電磁暗室還包括轉(zhuǎn)臺和搖擺器，其中，搖擺器可搖擺的最大角度大于或者等于相鄰極化天線間的圓心角的一半；轉(zhuǎn)臺用于通過帶動定向天線轉(zhuǎn)動，以改變定向天線的最大輻射方向在目標(biāo)平面上的投影與第一坐標(biāo)軸間的夾角；搖擺器用于通過帶動定向天線擺動，以改變定向天線的最大輻射方向與第三坐標(biāo)軸間的夾角；控制定向天線的位姿，以使定向天線與所使用的極化天線間的相對位置關(guān)系符合采樣點的空間坐標(biāo)，包括：根據(jù)采樣點的空間坐標(biāo)中的第一夾角，控制轉(zhuǎn)臺的旋轉(zhuǎn)角度；根據(jù)采樣點的空間坐標(biāo)中的第二夾角，控制搖擺器的擺動角度、對所使用極化天線的維持或切換。

21、第五方面，本技術(shù)實施例提供一種芯片，包括：處理器，其用于執(zhí)行存儲在存儲器上的計算機(jī)程序指令，其中，當(dāng)計算機(jī)程序指令被處理器執(zhí)行時，觸發(fā)芯片執(zhí)行如第一方面中任一項的方法。

22、第六方面，本技術(shù)實施例提供一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中存儲有計算機(jī)程序，當(dāng)計算機(jī)程序在計算機(jī)上運行時，使得計算機(jī)執(zhí)行如第一方面中任一項的方法。

23、第七方面，本技術(shù)實施例提供一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，計算機(jī)程序產(chǎn)品包括計算機(jī)程序，當(dāng)計算機(jī)程序在計算機(jī)上運行時，使得計算機(jī)執(zhí)行如第一方面中任一項的方法。

24、前述各個方面的技術(shù)效果可互相參考，在此不再贅述。