1.一種定向天線測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述多個第一輻射功率中的最大值，獲取對所述最大輻射方向的實測結果，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第二球冠上采樣點間的間隔等于所述第三球冠上采樣點間的間隔；
4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一球冠的球心角為所述定向天線的主波瓣寬度。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一球冠上采樣點間的間隔大于所述第二球冠上采樣點間的間隔；
7.根據權利要求1-6中任一所述的方法，其特征在于，所述電子設備位于電磁暗室中，所述電磁暗室包括呈環(huán)形依次分布的多個極化天線；
8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述電磁暗室還包括轉臺和搖擺器，其中，所述搖擺器可搖擺的最大角度大于或者等于相鄰所述極化天線間的圓心角的一半；
9.一種定向天線測試裝置，其特征在于，包括：
10.一種定向天線測試裝置，其特征在于，所述定向天線測試裝置包括用于存儲計算機程序指令的一個或多個存儲器、以及一個或多個處理器，其中，當所述計算機程序指令被所述一個或多個處理器執(zhí)行時，觸發(fā)所述定向天線測試裝置執(zhí)行如權利要求1-8中任一項所述的方法。
11.一種定向天線測試系統，其特征在于，包括：電磁暗室、以及如權利要求9或10所述的定向天線測試裝置；
12.根據權利要求11所述的定向天線測試系統，其特征在于，所述電磁暗室還包括轉臺和搖擺器，其中，所述搖擺器可搖擺的最大角度大于或者等于相鄰所述極化天線間的圓心角的一半；
13.一種芯片，其特征在于，包括：
14.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質中存儲有計算機程序，當所述計算機程序在計算機上運行時，使得計算機執(zhí)行如權利要求1-8中任一項所述的方法。