試樣保持構件的插拔機構以及圖像取得裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及試樣保持構件的插拔機構以及圖像取得裝置。
【背景技術】
[0002]作為現有的圖像取得裝置，例如有專利文獻1所記載的裝置。在該裝置中，由半棱鏡分割來自被檢測物的光并用由CCD區(qū)域傳感器等的二維攝像元件構成的光電轉換元件進行受光。光電轉換元件的控制電路具有能夠任意地設定二維掃描受光面的2個掃描區(qū)域的掃描區(qū)域設定部。于是，根據在被掃描區(qū)域設定部設定的2個掃描區(qū)域進行受光的光的聚焦偏差信號，執(zhí)行聚焦控制，從而對被檢測物的整體或者一部分進行攝影。
[0003]現有技術文獻
[0004]專利文獻
[0005]專利文獻1:日本專利申請公開平8-320430號公報

【發(fā)明內容】

[0006]發(fā)明所要解決的問題
[0007]在上述那樣的圖像取得裝置中，作為被檢測物的試樣例如以被保持于載片(滑動玻璃)、微芯片等的試樣保持構件的狀態(tài)相對于裝置進行插拔。在將試樣保持構件插入到裝置的時候，相對于工作臺的定位成為必要，但是，每次都用手操作來進行試樣保持構件的定位，因而太費事，而且會有定位精度也難以確保的情況。
[0008]本發(fā)明是為了解決上述問題而完成的發(fā)明，其目的在于，提供一種能夠確保定位精度且能夠簡單地配置試樣保持構件的試樣保持構件的插拔機構以及使用了該試樣保持構件的插拔機構的圖像取得裝置。
[0009]解決問題的技術手段
[0010]為了解決上述問題，本發(fā)明所涉及的試樣保持構件的插拔機構，其特征在于，是一種被用于取得試樣的圖像的圖像取得裝置的試樣保持構件的插拔機構，具備:工作臺，具有載置試樣保持構件的載置面和對應于試樣保持構件中的試樣的保持區(qū)域而設置于載置面的開口部；工作臺驅動部，在試樣保持構件的插拔位置與試樣的圖像取得位置之間驅動工作臺；承載臺，被配置于所述插拔位置并且具有試樣保持構件的承載面和對承載面上的試樣保持構件的位置進行定位的承載面定位部；承載臺驅動部，在以承載面朝著承載面定位部成為下傾的方式從開口部突出的進入位置與承載面從開口部進行退避的退避位置之間驅動承載臺。
[0011]在該試樣保持構件的插拔機構中，在試樣保持構件的插拔位置上，承載臺由承載臺驅動部而驅動至進入位置，并以承載面朝著承載面定位部成為下傾的方式從工作臺的開口部突出。由此，在該試樣保持構件的插拔機構中，即使不用手工操作來進行試樣保持構件的定位也能夠僅將試樣保持構件放置于承載面而利用承載面的下傾并由承載面定位部進行定位。在由承載面定位部的定位之后，如果承載臺由承載臺驅動部而驅動到退避位置的話，則試樣保持構件從承載臺被交接到工作臺，從而能夠簡單而且高精度地將試樣保持構件配置于工作臺的載置面。
[0012]另外，優(yōu)選，承載臺驅動部與由工作臺驅動部驅動的從圖像取得位置向插拔位置的工作臺的移動聯動而將承載臺驅動到進入位置。在此情況下，能夠提高插拔機構的便利性。
[0013]另外，優(yōu)選，工作臺進一步具有對載置面上的試樣保持構件的位置進行定位的載置面定位部，載置面定位部具有從載置面看成為向末端變寬的錐部。由此，能夠簡單地實施工作臺的載置面上的定位。另外，通過載置面定位部具有錐部，從而能夠確保試樣保持構件從承載臺被交接到工作臺時的交接容易度。
[0014]另外，優(yōu)選，工作臺進一步具有與由工作臺驅動部驅動的從插拔位置向圖像取得位置的工作臺的移動聯動而使試樣保持構件碰到載置面定位部的夾具部。由此，在工作臺移動到圖像取得位置的時候能夠抑制試樣保持構件發(fā)生位置偏移。
[0015]另外，優(yōu)選，對應于承載臺而設置有試樣保持構件的插拔口部，構成插拔口部的壁部具有從插拔口部的里側朝著跟前側成為向下擺變寬的錐部。由此，能夠提高在通過插拔口部而將試樣保持構件配置于承載臺的時候或者從承載臺取出試樣保持構件的時候的操作性。
[0016]另外，優(yōu)選，在承載臺移動到進入位置的時候，比試樣保持構件厚度大的間隙存在于承載面與構成插拔口部的壁部之間。由此，能夠進一步提高在通過插拔口部而將試樣保持構件配置于承載臺的時候或者從承載臺取出試樣保持構件的時候的操作性。
[0017]另外，本發(fā)明所涉及的圖像取得裝置，其特征在于，具備:上述試樣保持構件的插拔機構；光源，在工作臺移動到圖像取得位置的時候，通過開口部而將光照射于試樣保持構件中的試樣的保持區(qū)域；攝像裝置，對由光源形成的試樣的光學圖像進行攝像。
[0018]在該圖像取得裝置中，在試樣保持構件的插拔位置上，承載臺由承載臺驅動部而向進入位置驅動，使得以承載面朝著承載面定位部成為下傾的方式從開口部突出。由此，在該圖像取得裝置中，即使不用手工操作來進行試樣保持構件的定位也能夠僅將試樣保持構件放置于承載面而利用承載面的下傾并由承載面定位部進行定位。在由承載面定位部的定位之后，如果承載臺由承載臺驅動部而驅動到退避位置的話，則試樣保持構件從承載臺被交接到工作臺，從而能夠簡單而且高精度地將試樣保持構件配置于工作臺的載置面。
[0019]發(fā)明的效果
[0020]根據本發(fā)明，能夠確保定位精度且能夠簡單地配置試樣保持構件。
【附圖說明】
[0021]圖1是表示具備本發(fā)明的一個實施方式所涉及的試樣保持構件的插拔機構來構成的圖像取得裝置的外觀的立體圖。
[0022]圖2是表示圖像取得裝置的內部結構的概要圖。
[0023]圖3是表示試樣保持構件的插拔機構的結構的平面圖。
[0024]圖4是表示工作臺的結構的放大平面圖。
[0025]圖5是表示承載臺的結構的立體圖。
[0026]圖6是表示承載臺的結構的側面圖。
[0027]圖7是表示由承載臺驅動部進行的承載臺的驅動的情況的側面圖。
[0028]圖8是表示試樣保持構件的插拔構件的動作的立體圖。
[0029]圖9是表示圖8的后續(xù)動作的立體圖。
[0030]圖10是表示在圖9的狀態(tài)下的插拔口的情況的立體圖。
[0031]圖11是圖10的放大正面圖。
【具體實施方式】
[0032]以下，參照附圖，對本發(fā)明所涉及的試樣保持構件的插拔機構以及圖像取得裝置的優(yōu)選的實施方式進行詳細的說明。
[0033]圖1是表示具備本發(fā)明的一個實施方式所涉及的試樣保持構件的插拔機構來構成的圖像取得裝置的外觀的立體圖。另外，圖2是表示圖像取得裝置的內部結構的概要圖。如圖1以及圖2所示，圖像取得裝置1在箱形的框體2內內置有取得試樣S的宏觀圖像的宏觀圖像取得裝置3、取得試樣S的微觀圖像的微觀圖像取得裝置4、在宏觀圖像取得裝置3與微觀圖像取得裝置4之間能夠移動的工作臺5。圖像取得裝置1是一種通過相對于由宏觀圖像取得裝置3取得的宏觀圖像設定例如線狀的多個分割區(qū)域，由微觀圖像取得裝置4高倍率地取得各個分割區(qū)域并進行合成，從而生成虛擬幻燈片(virtual slide)圖像的
目.ο
[0034]由圖像取得裝置1觀察的試樣S例如是組織細胞等的生物體樣品。在試樣S被密封于例如載片等的試樣保持構件6(參照圖2)的狀態(tài)下，每次圖像取得各1枚地被插入到圖像取得裝置1。在框體2的正面?zhèn)?，如圖1所示，設置有用于將試樣保持構件6插拔于圖像取得裝置1的插拔部7。在插拔部7，安裝有開閉蓋8，配合于試樣保持構件6的插拔而以手動或者自動進行開閉。在圖像取得裝置1的內部，對應于插拔部7而設置有后面所述的試樣保持構件的插拔機構30(參照圖3)，向圖像取得裝置1的試樣保持構件6的插入以及從圖像取得裝置1的試樣保持構件6的拔出被支撐。
[0035]宏觀圖像取得裝置3如圖2所示包含被配置于工作臺5的底面?zhèn)鹊墓庠?1和被配置于工作臺5的上表面?zhèn)鹊臄z像裝置12來構成。作為光源11，例如可以使用激光二極管(LD)、發(fā)光二極管(LED)、超發(fā)光二極管(super luminescent d1de) (SLD)、齒素燈等的燈方式光源等。從光源11出射的光通過工作臺5的開口部42(下述)而照射到被保持于試樣保持構件6的試樣S。攝像裝置12例如是能夠取得二維圖像的區(qū)域圖像傳感器。攝像裝置12取得由光源11形成的試樣S的光學圖像的整體圖像。
[0036]微觀圖像取得裝置4與宏觀圖像取得裝置3相同，包含被配置于工作臺5的底面?zhèn)鹊墓庠?1和被配置于工作臺5的上表面?zhèn)鹊臄z像裝置22來構成。從光源21出射的光通過工作臺5的開口部42而照射到被保持于試樣保持構件6的試樣S。攝像裝置22例如由CMOS圖像傳感器等的二維攝像元件構成。攝像裝置22在每個分割區(qū)域按順序取得由光源21形成的試樣S的光學圖像的一部分區(qū)域。
[0037]另外，微觀圖像取得裝置4具有被配置于光源21與工作臺5之間的照明光學系統(tǒng)23、被配置于工作臺5與攝像裝置22之間的攝像光學系統(tǒng)24。在攝像光學系統(tǒng)24，包含與試樣S相對峙來進行配置的物鏡25。在物