I)使用上述的其中一個測量裝置，該測量裝置包括下平面板1、上平面板2、多根鐵釘或鐵絲4、至少兩個螺栓7以及至少兩個Z字形支架3;下平面板I上設(shè)置有至少一列用于穿入固定鐵釘或鐵絲4的第一通孔，且每列第一通孔的孔心連線均與下平面板I的長度方向平行，每根鐵釘或鐵絲4的頂端均設(shè)置有彎鉤，每根鐵釘或鐵絲4穿入第一通孔后通過其上的彎鉤搭接在下平面板I的上表面上，所有鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度相等，且所有鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度滿足使得其下端浸入結(jié)晶器內(nèi)鋼水上液面以下，每個第一通孔均穿入有鐵釘或鐵絲4，上平面板2通過螺栓7對接固定在下平面板I的上表面上以用于緊固彎鉤防止鐵釘或鐵絲4松動或脫落，至少兩個Z字形支架3通過螺栓7固定在上平面板2和下平面板I之間，且至少兩個Z字形支架3設(shè)置于下平面板I長度方向的兩側(cè)以用于將測量裝置搭接在結(jié)晶器的長邊銅板側(cè)的蓋板上；
[0052]利用Z字形支架3將測量裝置搭接在結(jié)晶器的長邊銅板側(cè)的蓋板上，控制下平面板I處于水平狀態(tài)，使得全部的鐵釘或鐵絲4的下端浸入結(jié)晶器內(nèi)的鋼水上液面以下，然后保持測量裝置固定不動一定時間，然后從結(jié)晶器內(nèi)的液體中提出測量裝置；
[0053]2)用尺子測量每根鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的殘余長度，利用原有每根鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度減去其被鋼水熱蝕后得到殘余長度，得到每根鐵釘或鐵絲4的熱蝕長度；
[0054]3)利用數(shù)據(jù)處理軟件處理步驟2)得到的每根鐵釘或鐵絲4的熱蝕長度數(shù)據(jù)，得到結(jié)晶器內(nèi)鋼水上液面波形變化趨勢:當(dāng)下平面板I設(shè)置有一列第一通孔時，得到平行于下平面板I長度方向二維豎直面內(nèi)的鋼水上液面波形變化趨勢；當(dāng)下平面板I設(shè)置有至少兩列第一通孔時，得到三維立體面內(nèi)的鋼水上液面波形變化趨勢。
[0055]本發(fā)明還提供了一種鋼水連鑄結(jié)晶器內(nèi)液體液面波形的測量方法，包括以下步驟:
[0056]I)使用上述的其中一個測量裝置，該測量裝置包括下平面板1、上平面板2、多根鐵釘或鐵絲4、至少兩個螺栓7以及至少兩個Z字形支架3;下平面板I上設(shè)置有至少一列用于穿入固定鐵釘或鐵絲4的第一通孔，且每列第一通孔的孔心連線均與下平面板I的長度方向平行，每根鐵釘或鐵絲4的頂端均設(shè)置有彎鉤，每根鐵釘或鐵絲4穿入第一通孔后通過其上的彎鉤搭接在下平面板I的上表面上，所有鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度相等，且所有鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度滿足使得其下端浸入結(jié)晶器內(nèi)鋼水上液面以下，每個第一通孔均穿入有鐵釘或鐵絲4，上平面板2通過螺栓7對接固定在下平面板I的上表面上以用于緊固彎鉤防止鐵釘或鐵絲4松動或脫落，至少兩個Z字形支架3通過螺栓7固定在上平面板2和下平面板I之間，且至少兩個Z字形支架3設(shè)置于下平面板I長度方向的兩側(cè)以用于將測量裝置搭接在結(jié)晶器的長邊銅板側(cè)的蓋板上;該測量裝置還包括多根鋁絲5;下平面板I上設(shè)置有至少一列用于穿入固定鋁絲5的第二通孔，且每列第二通孔的孔心連線均與下平面板I的長度方向平行，每根鋁絲5的頂端均設(shè)置有彎鉤，每根鋁絲5穿入第二通孔后通過其上的彎鉤搭接在下平面板I的上表面上，所有鋁絲5的露出下平面板I的部分的長度相等，且所有鋁絲5的露出下平面板I的部分的長度滿足使得其下端浸入結(jié)晶器內(nèi)液渣層上液面以下，每個第二通孔均穿入有鋁絲5，上平面板2通過螺栓7對接固定在下平面板I的上表面上以用于緊固彎鉤防止鋁絲5松動或脫落；
[0057]利用Z字形支架3將測量裝置搭接在結(jié)晶器的長邊銅板側(cè)的蓋板上，控制下平面板I處于水平狀態(tài)，使得全部的鐵釘或鐵絲4的下端浸入結(jié)晶器內(nèi)的鋼水上液面以下，且使得全部的鋁絲5的下端浸入結(jié)晶器內(nèi)液渣層上液面以下，然后保持測量裝置固定不動一定時間，然后從結(jié)晶器內(nèi)的液體中提出測量裝置；
[0058]2)用尺子測量每根鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的殘余長度，利用原有每根鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度減去其被鋼水熱蝕后得到殘余長度，得到每根鐵釘或鐵絲4的熱蝕長度；
[0059]用尺子測量每根鋁絲5的露出下平面板I的部分的殘余長度，利用原有每根鋁絲5的露出下平面板I的部分的長度減去其被鋼水和液渣層熱蝕后得到殘余長度，得到每根鋁絲5的熱蝕長度；
[0060]3)利用數(shù)據(jù)處理軟件處理步驟2)得到的每根鐵釘或鐵絲4的熱蝕長度數(shù)據(jù)，得到結(jié)晶器內(nèi)鋼水上液面波形變化趨勢:當(dāng)下平面板I設(shè)置有一列第一通孔時，得到平行于下平面板I長度方向二維豎直面內(nèi)的鋼水上液面波形變化趨勢；當(dāng)下平面板I設(shè)置有至少兩列第一通孔時，得到三維立體面內(nèi)的鋼水上液面波形變化趨勢；
[0061]利用數(shù)據(jù)處理軟件處理步驟2)得到的每根鋁絲5的熱蝕長度數(shù)據(jù)，得到結(jié)晶器內(nèi)液渣層上液面波形變化趨勢:當(dāng)下平面板I設(shè)置有一列第二通孔時，得到平行于下平面板I長度方向二維豎直面內(nèi)的液渣層上液面波形變化趨勢；當(dāng)下平面板I設(shè)置有至少兩列第二通孔時，得到三維立體面內(nèi)的液渣層上液面波形變化趨勢。
[0062]本發(fā)明還提供了一種鋼水連鑄結(jié)晶器內(nèi)液體液面波形的測量方法，包括以下步驟:
[0063]I)使用上述的其中一個測量裝置，該測量裝置包括下平面板1、上平面板2、多根鐵釘或鐵絲4、至少兩個螺栓7以及至少兩個Z字形支架3;下平面板I上設(shè)置有至少一列用于穿入固定鐵釘或鐵絲4的第一通孔，且每列第一通孔的孔心連線均與下平面板I的長度方向平行，每根鐵釘或鐵絲4的頂端均設(shè)置有彎鉤，每根鐵釘或鐵絲4穿入第一通孔后通過其上的彎鉤搭接在下平面板I的上表面上，所有鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度相等，且所有鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度滿足使得其下端浸入結(jié)晶器內(nèi)鋼水上液面以下，每個第一通孔均穿入有鐵釘或鐵絲4，上平面板2通過螺栓7對接固定在下平面板I的上表面上以用于緊固彎鉤防止鐵釘或鐵絲4松動或脫落，至少兩個Z字形支架3通過螺栓7固定在上平面板2和下平面板I之間，且至少兩個Z字形支架3設(shè)置于下平面板I長度方向的兩側(cè)以用于將測量裝置搭接在結(jié)晶器的長邊銅板側(cè)的蓋板上;該測量裝置還包括多根鋁絲5;下平面板I上設(shè)置有至少一列用于穿入固定鋁絲5的第二通孔，且每列第二通孔的孔心連線均與下平面板I的長度方向平行，每根鋁絲5的頂端均設(shè)置有彎鉤，每根鋁絲5穿入第二通孔后通過其上的彎鉤搭接在下平面板I的上表面上，所有鋁絲5的露出下平面板I的部分的長度相等，且所有鋁絲5的露出下平面板I的部分的長度滿足使得其下端浸入結(jié)晶器內(nèi)液渣層上液面以下，每個第二通孔均穿入有鋁絲5，上平面板2通過螺栓7對接固定在下平面板I的上表面上以用于緊固彎鉤防止鋁絲5松動或脫落;且每個第一通孔均穿入有至少兩根鐵釘或鐵絲4和至少兩根鋁絲5，每個第二通孔均穿入有至少兩根鐵釘或鐵絲4和至少兩根鋁絲5，且所有鋁絲5的露出下平面板I的部分的長度與所有鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度相等；
[0064]利用Z字形支架3將測量裝置搭接在結(jié)晶器的長邊銅板側(cè)的蓋板上，控制下平面板I處于水平狀態(tài)，使得全部的鐵釘或鐵絲4的下端浸入結(jié)晶器內(nèi)的鋼水上液面以下，且使得全部的鋁絲5的下端浸入結(jié)晶器內(nèi)液渣層上液面以下，然后保持測量裝置固定不動一定時間，然后從結(jié)晶器內(nèi)的液體中提出測量裝置；
[0065]2)用尺子測量每根鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的殘余長度，利用原有每根鐵釘或鐵絲4的露出下平面板I的部分的長度減去其被鋼水熱蝕后得到殘余長度，得到每根鐵釘或鐵絲4的熱蝕長度；
[0066]用尺子測量每根鋁絲5的露出下平面板I的部分的殘余長度，利用原有每根鋁絲5的露出下平面板I的部分的長度減去其被鋼水和液渣層熱蝕后得到殘余長度，得到每根鋁絲5的熱蝕長度；
[0067]利用每根鋁絲5的熱蝕長度減去同一個第一通孔或第二通孔內(nèi)的鐵釘或鐵絲4的熱蝕長度得到該第一通孔或第二通孔對應(yīng)處的液渣層的厚度；
[0068]3)利用數(shù)據(jù)處理軟件處理步驟2)得到的每根鐵釘或鐵絲4的熱蝕長度數(shù)據(jù)，得到結(jié)晶器內(nèi)鋼水上液面波形變化趨勢:當(dāng)下平面板I設(shè)置有一列第一通孔或第二通孔時，得到平行于下平面板I長度方向二維豎直面內(nèi)的鋼水上液面波形變化趨勢；當(dāng)下平面板I設(shè)置有至少一列第一通孔和至少一列第二通孔時，得到三維立體面內(nèi)的鋼水上液面波形變化趨勢；
[0069]利用數(shù)據(jù)處理軟件處理步驟2)得到的每根鋁絲5的熱蝕長度數(shù)據(jù)，得到結(jié)晶器內(nèi)液渣層上液面波形變化趨勢:當(dāng)下平面板I設(shè)置有一列第一通孔或第二通孔時，得到平行于下平面板I長度方向二維豎直面內(nèi)的液渣層上液面波形變化趨勢；當(dāng)下平面板I設(shè)置有至少一列