技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種測(cè)試方法和芯片，其中的測(cè)試方法具體包括：通過芯片的固定電壓接口向芯片輸入電壓；通過芯片的數(shù)據(jù)和指令接口向芯片輸入控制指令，并在控制指令輸入完成后，停止向芯片輸入電壓；在向芯片輸入控制指令之后，通過數(shù)據(jù)和指令接口向芯片輸入標(biāo)識(shí)指令；在向芯片輸入標(biāo)識(shí)指令之后，通過數(shù)據(jù)和指令接口向芯片輸入比特形式的數(shù)據(jù)內(nèi)容；其中，數(shù)據(jù)內(nèi)容包括如下類型中的至少一種：指令類型、地址類型及數(shù)據(jù)類型；在向芯片輸入比特形式的數(shù)據(jù)內(nèi)容之后，根據(jù)標(biāo)識(shí)指令識(shí)別數(shù)據(jù)內(nèi)容的類型；根據(jù)數(shù)據(jù)內(nèi)容及識(shí)別得到的數(shù)據(jù)內(nèi)容的類型對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明實(shí)施例能夠提高測(cè)試的效率。

技術(shù)研發(fā)人員：蘇志強(qiáng);丁沖;陳立剛;謝瑞杰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司
文檔號(hào)碼：201510419716
技術(shù)研發(fā)日：2015.07.16
技術(shù)公布日：2017.01.25