1.一種IC測試組件，其特征在于，包括安裝件、第一測試件及第二測試件；所述第一測試件及所述第二測試件均自所述安裝件延伸而出，且所述第一測試件與所述第二測試件間隔設(shè)置；
所述第一測試件包括第一主體部及第一測試部，所述第一主體部固定于所述安裝件，所述第一主體部具有第一自由端，所述第一測試部設(shè)于所述第一自由端且向著遠(yuǎn)離所述第二測試件的一側(cè)延伸；
所述第二測試件包括第二主體部及第二測試部，所述第二主體部固定于所述安裝件，所述第二主體部具有第二自由端，所述第二測試部設(shè)于所述第二自由端且向著靠近所述第一測試件的一側(cè)延伸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試組件，其特征在于，所述第一測試件及所述第二測試件的數(shù)量均為多個(gè)；至少一個(gè)所述第一測試件及至少一個(gè)所述第二測試件組成一個(gè)測試單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試組件，其特征在于，所述第一主體部與所述第一測試部一體成型；及/或，所述第二主體部與所述第二測試部一體成型。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試組件，其特征在于，所述第一測試部與所述第一主體部可拆卸連接，所述第二測試部與所述第二主體部可拆卸連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的IC測試組件，其特征在于，所述第一測試部及所述第二測試部均為鎢銅測試觸頭。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試組件，其特征在于，所述第一測試部具有遠(yuǎn)離所述第一自由端的第一工作端，所述第二測試部具有遠(yuǎn)離所述第二自由端的第二工作端，所述第一工作端與所述第二工作端的間距為0.1mm～0.2mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試組件，其特征在于，所述第一測試部及所述第二測試部的厚度為0.8mm～1.2mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試組件，其特征在于，所述安裝件為絕緣安裝件。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試組件，其特征在于，所述安裝件開設(shè)有多個(gè)測試件固定孔，所述第一測試件及所述第二測試件分別穿過所述測試件固定孔，并固定于所述安裝件。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試組件，其特征在于，所述安裝件開設(shè)有安裝孔，所述安裝孔用于將所述IC測試組件安裝于測試儀器上。