觸控面板的觸摸位置探測(cè)方法、觸控面板檢測(cè)方法及觸控面板檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及探測(cè)觸控面板觸摸位置的觸摸位置探測(cè)方法，使用該觸摸位置探測(cè)方 法的觸控面板檢測(cè)方法，以及觸控面板檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 以往，已知的觸控面板是利用重心法探測(cè)觸摸位置，所述重心法是通過測(cè)定以網(wǎng) 格形狀配置的感應(yīng)區(qū)域的靜電容量，從而計(jì)算復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域的靜電容量值的重心位置 (例如，參照專利文獻(xiàn)1)。
[0003] 然而，如上所述，將各感應(yīng)區(qū)域的靜電容量值的重心位置作為觸摸位置的探測(cè)方 法，具有觸摸位置的探測(cè)精密度低的問題。
[0004] 【現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)】
[0005] 【專利文獻(xiàn)1】
[0006] 專利文獻(xiàn)1 :日本專利公開第2013-134698號(hào)公報(bào)

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 本發(fā)明的目的是，提供可以提高觸摸位置探測(cè)精密度的觸控面板的觸摸位置探測(cè) 方法，和使用該方法的觸控面板檢測(cè)方法及觸控面板檢測(cè)裝置。
[0008] 根據(jù)本發(fā)明的觸控面板的觸摸位置探測(cè)方法是，在設(shè)定有二維坐標(biāo)的觸摸面上以 網(wǎng)格形狀配置有復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域的觸控面板的觸摸位置探測(cè)方法，其包含：探測(cè)處理工序， 獲取在所述各感應(yīng)區(qū)域探測(cè)到的探測(cè)值；校正工序，基于相關(guān)值，校正所述各探測(cè)值，從而 計(jì)算與所述各感應(yīng)區(qū)域?qū)?yīng)的相關(guān)校正值，其中所述相關(guān)值是將相鄰于所述各感應(yīng)區(qū)域的 其它感應(yīng)區(qū)域的探測(cè)值對(duì)所述各感應(yīng)區(qū)域的探測(cè)值所產(chǎn)生的影響數(shù)值化的值；最大值搜 尋工序，在所述各相關(guān)校正值中搜尋最大值；以及觸摸位置獲取工序，將對(duì)應(yīng)于所述最大值 的感應(yīng)區(qū)域作為最大區(qū)域，對(duì)包含所述最大區(qū)域和相鄰所述最大區(qū)域之其它感應(yīng)區(qū)域的區(qū) 域，計(jì)算基于所述相關(guān)校正值的重心位置，將所述算出的重心位置作為觸摸位置而獲取。
[0009] 由此構(gòu)成，對(duì)于在觸控面板的各感應(yīng)區(qū)域探測(cè)到的探測(cè)值，基于將與各感應(yīng)區(qū)域 相鄰的其它感應(yīng)區(qū)域的探測(cè)值所生產(chǎn)的影響數(shù)值化的相關(guān)值，進(jìn)行校正，從而計(jì)算出各感 應(yīng)區(qū)域的相關(guān)校正值。如此獲取的各相關(guān)校正值中搜尋最大值，對(duì)包含對(duì)應(yīng)于該最大值的 最大區(qū)域和相鄰于該最大區(qū)域的其它感應(yīng)區(qū)域的區(qū)域，計(jì)算基于相關(guān)校正值的重心位置， 而該重心位置作為觸摸位置而獲取。由此，基于考慮了與各感應(yīng)區(qū)域相鄰的其它感應(yīng)區(qū)域 之影響的相關(guān)校正值而獲取觸摸位置，從而可以提高觸摸位置的探測(cè)精密度。
[0010] 另外，優(yōu)選地，還包含：準(zhǔn)備工序，通過所述觸摸位置獲取工序，獲取所述觸摸位置 后，減少所述最大區(qū)域的所述相關(guān)校正值；以及下一個(gè)觸摸位置獲取工序，在所述準(zhǔn)備工序 執(zhí)行之后，再反復(fù)執(zhí)行所述最大值搜尋工序和所述觸摸位置獲取工序，由此獲取新的觸摸 位置。
[0011] 由此構(gòu)成，可以探測(cè)基于相關(guān)校正值的復(fù)數(shù)個(gè)觸摸位置，從而可以實(shí)現(xiàn)所謂多點(diǎn) 觸控功能。
[0012] 另外，優(yōu)選地，在所述準(zhǔn)備工序中，對(duì)圍繞所述最大區(qū)域而相鄰的其它感應(yīng)區(qū)域的 所述相關(guān)校正值，基于在所述其它感應(yīng)區(qū)域周圍的外側(cè)與所述其它感應(yīng)區(qū)域相鄰的外側(cè)感 應(yīng)區(qū)域的所述相關(guān)校正值來進(jìn)行校正。
[0013] 由此構(gòu)成，在搜尋新的觸摸位置時(shí)，可以用更高的精密度排除對(duì)已探測(cè)的觸摸位 置的觸摸影響。
[0014] 另外，優(yōu)選地，在所述下一個(gè)觸摸位置獲取工序中，所述反復(fù)執(zhí)行的所述最大值搜 尋工序中搜尋的最大值，對(duì)最初在所述最大值搜尋工序中搜尋的最大值的比率，沒有達(dá)到 預(yù)先設(shè)定的基準(zhǔn)比率時(shí)，不再獲取新的觸摸位置。
[0015] 由此構(gòu)成，可以降低把對(duì)于相關(guān)校正值的比率不及基準(zhǔn)比率的感應(yīng)區(qū)域錯(cuò)誤地探 測(cè)為觸摸位置的隱患，其中所述相關(guān)校正值是基于最初搜尋的最大值，即通過觸摸產(chǎn)生的 探測(cè)值而獲得。
[0016] 另外，優(yōu)選地，所述相關(guān)值包含：對(duì)應(yīng)于處理對(duì)象的感應(yīng)區(qū)域即關(guān)注區(qū)域所規(guī)定的 關(guān)注區(qū)域相關(guān)值；對(duì)應(yīng)于對(duì)所述關(guān)注區(qū)域以行方向或列方向相鄰的各第1感應(yīng)區(qū)域所規(guī)定 的第1相關(guān)值；和對(duì)應(yīng)于對(duì)所述關(guān)注區(qū)域以傾斜方向相鄰的各第2感應(yīng)區(qū)域所規(guī)定的第2 相關(guān)值，其中，所述第1相關(guān)值比所述關(guān)注區(qū)域相關(guān)值小，所述第2相關(guān)值比所述第1相關(guān) 值小，所述校正工序是，將所述各感應(yīng)區(qū)域依序分配在所述關(guān)注區(qū)域，將所述關(guān)注區(qū)域的探 測(cè)值和所述關(guān)注區(qū)域相關(guān)值的相乘值，所述各第1感應(yīng)區(qū)域的探測(cè)值和所述第1相關(guān)值的 各相乘值，所述各第2感應(yīng)區(qū)域的探測(cè)值和所述第2相關(guān)值的各相乘值相加，從而計(jì)算所述 關(guān)注區(qū)域的相關(guān)校正值。
[0017] 由此構(gòu)成，對(duì)關(guān)注區(qū)域的接線長，并對(duì)關(guān)注區(qū)域的影響大的第1感應(yīng)區(qū)域的第1相 關(guān)值比對(duì)關(guān)注區(qū)域略微相接的第2感應(yīng)區(qū)域的第2相關(guān)值更大。其結(jié)果，對(duì)關(guān)注區(qū)域生產(chǎn) 的影響程度適當(dāng)?shù)胤从吃诘?及第2相關(guān)值。
[0018] 另外，優(yōu)選地，在所述校正工序中，使所述復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域中位于所述觸摸面端部 邊緣的感應(yīng)區(qū)域的所述相關(guān)校正值與在所述位于端部邊緣的感應(yīng)區(qū)域的內(nèi)側(cè)相鄰的感應(yīng) 區(qū)域的所述相關(guān)校正值相等。
[0019] 位于觸摸面端部邊緣的感應(yīng)區(qū)域是相鄰的其它感應(yīng)區(qū)域的個(gè)數(shù)少。由此，與位于 觸摸面內(nèi)側(cè)的感應(yīng)區(qū)域同樣的方式計(jì)算位于端部邊緣的感應(yīng)區(qū)域的相關(guān)校正值時(shí)，存在無 法獲取適當(dāng)相關(guān)校正值的隱患。所以，由此構(gòu)成，位于觸摸面端部邊緣的感應(yīng)區(qū)域的相關(guān)校 正值與在這些位于端部邊緣的感應(yīng)區(qū)域的內(nèi)側(cè)相鄰的感應(yīng)區(qū)域的相關(guān)校正值相等，從而提 高位于端部邊緣的感應(yīng)區(qū)域的相關(guān)校正值的適合性。
[0020] 另外，根據(jù)本發(fā)明的觸控面板檢測(cè)方法，包含：觸摸處理工序，在設(shè)定有二維坐標(biāo) 的觸摸面上以網(wǎng)格形狀配置有復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域的觸控面板的所述觸摸面上，接觸1個(gè)或復(fù) 數(shù)個(gè)模擬手指；觸摸位置探測(cè)工序，對(duì)所述觸控面板執(zhí)行前述的觸控面板的觸摸位置探測(cè) 方法；以及判斷工序，對(duì)于通過所述觸摸位置探測(cè)工序探測(cè)的1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)觸摸位置與在 所述觸摸處理工序中所述1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)模擬手指在所述觸摸面上接觸的1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)接觸 位置之間的各偏差量，判斷是否至少有一個(gè)超過預(yù)先設(shè)定的基準(zhǔn)量。
[0021 ] 由此構(gòu)成，判斷通過上述的觸控面板的觸摸位置探測(cè)方法以高精密度探測(cè)的觸摸 位置，和模擬手指接觸的接觸位置的偏差量是否超過基準(zhǔn)量，從而可以提高觸控面板的檢 測(cè)精密度。
[0022] 另外，根據(jù)本發(fā)明的觸控面板檢測(cè)裝置，包含：觸摸機(jī)構(gòu)，在設(shè)定有二維坐標(biāo)的觸 摸面上以網(wǎng)格形狀配置有復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域的觸控面板的所述觸摸面上，接觸1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè) 模擬手指；觸摸位置探測(cè)部，對(duì)所述觸控面板執(zhí)行前述的觸控面板的觸摸位置探測(cè)方法； 以及判定部，對(duì)于通過所述觸摸位置探測(cè)部探測(cè)的1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)觸摸位置與通過所述觸摸 機(jī)構(gòu)所述1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)模擬手指在所述觸摸面上接觸的1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)接觸位置之間的各偏 差量，判斷是否至少有一個(gè)超過預(yù)先設(shè)定的基準(zhǔn)量。
[0023] 由此構(gòu)成，判斷通過上述的觸控面板的觸摸位置探測(cè)方法以高精密度探測(cè)的觸摸 位置，和模擬手指接觸的接觸位置的偏差量是否超過基準(zhǔn)量，從而可以提高觸控面板的檢 測(cè)精密度。
[0024] 另外，根據(jù)本發(fā)明的觸控面板檢測(cè)裝置，包含：觸摸機(jī)構(gòu)，在設(shè)定有二維坐標(biāo)的觸 摸面上以網(wǎng)格形狀配置有復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域的觸控面板的所述觸摸面上，接觸1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè) 模擬手指；探測(cè)處理部，獲取在所述各感應(yīng)區(qū)域探測(cè)到的探測(cè)值；校正部，基于相關(guān)值，校 正所述各探測(cè)值，從而計(jì)算與所述各感應(yīng)區(qū)域?qū)?yīng)的相關(guān)校正值，其中所述相關(guān)值是將相 鄰于所述各感應(yīng)區(qū)域的其它感應(yīng)區(qū)域的探測(cè)值對(duì)所述各感應(yīng)區(qū)域的探測(cè)值所產(chǎn)生的影響 數(shù)值化的值；最大值搜尋部，在所述各相關(guān)校正值中搜尋最大值；觸摸位置獲取部，將對(duì)應(yīng) 于所述最大值的感應(yīng)區(qū)域作為最大區(qū)域，對(duì)包含所述最大區(qū)域和相鄰該最大區(qū)域之其它感 應(yīng)區(qū)域的區(qū)域，計(jì)算基于所述相關(guān)校正值的重心位置，將所述算出的重心位置作為觸摸位 置而獲取；以及判定部，對(duì)于通過所述觸摸位置獲取部探測(cè)的1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)觸摸位置與通 過所述觸摸機(jī)構(gòu)所述1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)模擬手指在所述觸摸面上接觸的1個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)接觸位置 之間的各偏差量，判斷是否至少有一個(gè)超過預(yù)先設(shè)定的基準(zhǔn)量。
[0025] 由此構(gòu)成，與上述的觸控面板的觸摸位置探測(cè)方法一樣，基于考慮了與各感應(yīng)區(qū) 域相鄰的其它感應(yīng)區(qū)域之影響的相關(guān)校正值而獲取觸摸位置，從而可以提高觸摸位置的探 測(cè)精密度。而且，能判斷以高精密度探測(cè)的觸摸位置和模擬手指接觸的接觸位置的偏差量 是否超過基準(zhǔn)量，從而可以提高觸控面板的檢測(cè)精密度。
[0026] 如上所述的觸控面板的觸摸位置探測(cè)方法，觸控面板檢測(cè)方法及觸控面板檢測(cè)裝 置可以提高觸摸位置的探測(cè)精密度。
【附圖說明】
[0027] 圖1是示意性示出根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例之使用觸控面板觸摸位置探測(cè)方法的觸 控面板檢測(cè)裝置構(gòu)成之一例的立體圖。
[0028] 圖2是示出圖1所示觸控面板檢測(cè)裝置的電性構(gòu)成之一例的方框圖。
[0029] 圖3是示出圖2所示觸控面板檢測(cè)裝置的動(dòng)作之一例的流程圖。
[0030] 圖4是示出圖2所示觸控面板檢測(cè)裝置的動(dòng)作之一例的流程圖。
[0031] 圖5是示出圖2所示觸控面板檢測(cè)裝置的動(dòng)作之一例的流程圖。
[0032] 圖6是示出在探測(cè)處理工序中探測(cè)的靜電容量值一例的說明圖。
[0033] 圖7是不出相關(guān)值表一例的說明圖。
[0034] 圖8是示出相關(guān)校正值一例的說明圖。
[0035] 圖9是示出相關(guān)校正值一例的說明圖。
[0036] 圖10是用于說明在觸摸位置獲取工序中的重心位置計(jì)算方法的說明圖。
[0037] 圖11是用于說明準(zhǔn)備工序之處理的說明圖。
[0038] 圖12是示出相關(guān)校正值一例的說明圖。
[0039] 圖13是用于說明在觸摸位置獲取工序中的重心位置計(jì)算方法的說明圖。
[0040] 圖14是用于說明準(zhǔn)備工序之處理的說明圖。