[0041] [附圖標(biāo)記說明]
[0042] 1 :觸控面板檢測(cè)裝置2 :模擬手指驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)
[0043] 3 :靜電容量測(cè)定電路4 :顯示部
[0044] 6 :相關(guān)值表 10 :控制部
[0045] 11 :觸摸處理部 12 :探測(cè)處理部
[0046] 13 :校正部 14 :最大值搜尋部
[0047] 15 :觸摸位置獲取部 16 :準(zhǔn)備部
[0048] 17 :下一個(gè)觸摸位置獲取部 18 :判定部
[0049] 21a、21b、21c:模擬手指 31:X線連接電路
[0050] 32 :Y線連接電路 51 :基座
[0051] 52:工件夾具 53:XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)
[0052] 54 :Z移動(dòng)機(jī)構(gòu) 55 :模擬手指機(jī)構(gòu)
[0053] 60 :關(guān)注區(qū)域相關(guān)值 61 :第1相關(guān)值
[0054] 62 :第2相關(guān)值 100 :觸控面板
[0055] 101 :感應(yīng)區(qū)域 104 :處理對(duì)象區(qū)域
[0056] 106:提取區(qū)域 D1、D2:偏差量
[0057] MAX:最大值 P(i)、P(l)、P(2):觸摸位置
[0058] Ref:基準(zhǔn)量 TP1 :檢測(cè)坐標(biāo)
[0059] TP2 :檢測(cè)坐標(biāo)
【具體實(shí)施方式】
[0060] 以下，結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的說明。另外，在各附圖中賦予相同符 號(hào)的構(gòu)成表示同樣的構(gòu)成，并省略其說明。圖1是示意性示出根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例之使用 觸控面板觸摸位置探測(cè)方法的觸控面板檢測(cè)裝置構(gòu)成之一例的立體圖。圖1示出的觸控面 板檢測(cè)裝置1是設(shè)置在水平基板90上。
[0061] 觸控面板檢測(cè)裝置1包含：基座51，工件夾具52,模擬手指21&、2113、21(：，和模擬 手指驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2 (觸摸機(jī)構(gòu)）。模擬手指驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2包含：XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)53, Z移動(dòng)機(jī)構(gòu)54， 和模擬手指機(jī)構(gòu)55?；?1的上面形成水平面，在與此面平行的面上分別定義相互垂直的 X軸和Y軸。而且，以垂直XY平面的方向定義Z軸。
[0062] 工件夾具52是在基座51上，將檢測(cè)對(duì)象物，即平板形狀的觸控面板100在其表面 向上的狀態(tài)下保持。觸控面板100是大約呈長(zhǎng)方形。在觸控面板100的觸摸面上，以大約 網(wǎng)格形狀配置有復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域。各感應(yīng)區(qū)域可以根據(jù)二維坐標(biāo)指定。
[0063] 檢測(cè)對(duì)象即觸控面板100是電容式或電阻膜式等均可，觸控面板檢測(cè)裝置1可以 檢測(cè)多種方式的觸控面板。以下，觸控面板100是以電容式為例進(jìn)行說明。在觸控面板100 的觸摸面上，例如，形成有以Y方向（列方向）延伸，沿著X方向按一定間隔排列的復(fù)數(shù)個(gè)X 電極102,和以X方向（行方向）延伸，沿著Y方向按一定間隔排列的復(fù)數(shù)個(gè)Y電極103 (圖 2) 〇
[0064] 在觸控面板100的觸摸面上以網(wǎng)格形狀配置有復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域。各感應(yīng)區(qū)域可由 X電極102和Y電極103的組合來選擇。如果分別各選擇一個(gè)X電極102和Y電極103,測(cè) 定其電極間的靜電容量，那么便能測(cè)定由該X電極102和Y電極103所指定之坐標(biāo)的感應(yīng) 區(qū)域的靜電容量值（探測(cè)值）。另外，例如觸控面板100為電阻膜式觸控面板時(shí)，則電阻值 作為探測(cè)值而被探測(cè)。
[0065] 當(dāng)用戶觸摸到觸摸面時(shí)，用戶觸摸的感應(yīng)區(qū)域的靜電容量會(huì)增加。因此，通過依序 選擇X電極102和Y電極103,測(cè)定各感應(yīng)區(qū)域的靜電容量值，由此可以確認(rèn)用戶觸摸的感 應(yīng)區(qū)域。即，可以探測(cè)用戶觸摸的觸摸位置。此時(shí)，位于觸摸位置感應(yīng)區(qū)域周圍的感應(yīng)區(qū)域 的靜電容量值也隨著與用戶觸摸位置的距離而改變。
[0066] 所以，基于在復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域探測(cè)的靜電容量值，執(zhí)行演算處理，從而通過比各感 應(yīng)區(qū)域的大小更高的分辨率（Resolution)能探測(cè)觸摸位置。以往是，如【背景技術(shù)】所記載， 基于在復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)區(qū)域探測(cè)的靜電容量值，計(jì)算重心位置，從而執(zhí)行對(duì)觸摸位置的探測(cè)。
[0067] 本發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，在各感應(yīng)區(qū)域，除了與用戶的手指之間產(chǎn)生的靜電容量以外，在其 它感應(yīng)區(qū)域產(chǎn)生的靜電容量對(duì)各感應(yīng)區(qū)域的靜電容量值產(chǎn)生影響。而且，由重心法計(jì)算觸 摸位置時(shí)，發(fā)現(xiàn)由于感應(yīng)區(qū)域之間產(chǎn)生的影響，降低觸摸位置的計(jì)算精密度。尤其是，用復(fù) 數(shù)個(gè)手指觸摸到觸摸面而執(zhí)行多點(diǎn)觸控時(shí)，發(fā)現(xiàn)感應(yīng)區(qū)域之間的影響變得很明顯，降低各 手指觸摸位置的探測(cè)精密度，難于探測(cè)各手指的觸摸位置。
[0068] 另外，將觸控面板內(nèi)置在設(shè)備上使用時(shí)，通常，在觸控面板安裝從觸控面板的探測(cè) 值獲取觸摸位置的IC(IntegratedCircuit)芯片。然而，進(jìn)行觸控面板的檢測(cè)時(shí)，如果將 這種1C芯片安裝后進(jìn)行檢測(cè)，那么在觸控面板存在不良的情況下，該1C芯片就變?yōu)闊o用。
[0069] 因此，觸控面板檢測(cè)裝置1是對(duì)沒有安裝用于演算觸摸位置之1C芯片的觸控面板 實(shí)施觸摸位置探測(cè)方法，便能探測(cè)觸摸位置。觸控面板檢測(cè)裝置1是基于如此獲取的觸摸 位置，對(duì)觸控面板進(jìn)行檢測(cè)。
[0070] 在基座51上，配置有2軸平面移動(dòng)機(jī)構(gòu)，即XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)53。該XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)53在 平行于基座51面（后述的觸控面板100的面）的XY平面內(nèi)，可使模擬手指機(jī)構(gòu)55向任意 位置移動(dòng)。在XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)53上設(shè)置有Z移動(dòng)機(jī)構(gòu)54。Z移動(dòng)機(jī)構(gòu)54可使模擬手指機(jī)構(gòu) 55向與XY平面垂直的Z軸方向移動(dòng)。
[0071] 具體地，XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)53包含：平行于Y軸而延伸設(shè)置的直線導(dǎo)軌66、66 ;平行于X 軸而延伸，沿著直線導(dǎo)軌66、66向Y軸方向能平行移動(dòng)的第1托架63 ;和由第1托架63支 撐，沿著第1托架63向X軸方向能直線移動(dòng)的第2托架65。
[0072] 第2托架65是向Z軸方向可驅(qū)動(dòng)地支撐支架67。在支架67上設(shè)置有模擬手指機(jī) 構(gòu)55。由此，第2托架65可使模擬手指機(jī)構(gòu)55沿著Z軸方向移動(dòng)。
[0073] 模擬手指機(jī)構(gòu)55,例如，保持在直線上以等間距排列的3個(gè)模擬手指21a、21b、 21c。模擬手指21a、21b、21c是以Z軸方向延伸的桿狀部件。模擬手指機(jī)構(gòu)55是使模擬手 指21a、21b、21c分別向觸控面板100突出并接觸。作為模擬手指機(jī)構(gòu)55,例如使用氣缸或 電磁閥等多種致動(dòng)器。
[0074] 模擬手指機(jī)構(gòu)55是通過以Z軸方向延伸的旋轉(zhuǎn)軸被支撐在支架67上，并以該旋 轉(zhuǎn)軸為中心可以旋轉(zhuǎn)。由此，可以變更模擬手指21a、21b、21c排列的角度。
[0075] 另外，并不限定于由XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)53移動(dòng)模擬手指21a、21b、21c的實(shí)施例。例如， 也可以是利用XY臺(tái)面使觸控面板100移動(dòng)的構(gòu)成。
[0076] 圖2是示出圖1所示觸控面板檢測(cè)裝置1的電性構(gòu)成之一例的方框圖。圖2所示 的觸控面板檢測(cè)裝置1包含：模擬手指驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2,靜電容量測(cè)定電路3, X線連接電路31， Y線連接電路32,顯示部4,和控制部10 (觸摸位置探測(cè)部）。
[0077] 模擬手指驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2是，根據(jù)控制部10的控制信號(hào)，使得模擬手指21a、21b、21c 觸摸到觸控面板100上的任意坐標(biāo)位置。X線連接電路31是與觸控面板100的復(fù)數(shù)個(gè)X電 極102連接。
[0078] X線連接電路31是，根據(jù)控制部10的控制信號(hào)，從復(fù)數(shù)個(gè)X電極102中選擇1個(gè)， 將其選出的X電極102連接于靜電容量測(cè)定電路3的轉(zhuǎn)換電路。Y線連接電路32是，根據(jù) 控制部10的控制信號(hào)，從復(fù)數(shù)個(gè)Y電極103中選擇1個(gè)，將該選出的Y電極103連接于靜 電容量測(cè)定電路3的轉(zhuǎn)換電路。
[0079] 靜電容量測(cè)定電路3是，測(cè)定由X線連接電路31選出的X電極102和由Y線連接 電路32選出的Y電極103所指定的感應(yīng)區(qū)域101的靜電容量，將該靜電容量值輸出給控制 部10〇
[0080] 顯示部4是，例如液晶顯示器或LED(LightEmittingDiode)等顯示裝置。顯示 部4顯示觸控面板100的檢測(cè)結(jié)果。
[0081] 控制部10,例如包含：執(zhí)行所定演算處理的CPU(Central Processing Unit)，暫時(shí) 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的RAM (Random Access Memory)，存儲(chǔ)所定控制程序的ROM (Read Only Memory)或 HDD(Hard Disk Drive)，以及這些的周邊電路等。
[0082] 控制部10是，例如通過執(zhí)行存儲(chǔ)在ROM的控制程序，從而實(shí)現(xiàn)作為觸摸處理部11， 探測(cè)處理部12,校正部13,最大值搜尋部14,觸摸位置獲取部15,準(zhǔn)備部16,下一個(gè)觸摸位 置獲取部17,及判定部18的功能。
[0083] 觸摸處理部11執(zhí)行觸摸處理工序，即，通過模擬手指驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2,將模擬手指21a、 21b、21c接觸到觸控面板100上的各檢測(cè)坐標(biāo)。在本實(shí)施例中，觸摸處理部11是，通過模擬 手指驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2,將模擬手指21a接觸到觸控面板100的檢測(cè)坐標(biāo)TP1，將模擬手指21c接 觸到觸控面板100的檢測(cè)坐標(biāo)TP2。
[0084] 探測(cè)處理部12是，通過X線連接電路31及Y線連接電路32,依序選擇各感應(yīng)區(qū)域 101，通過靜電容量測(cè)定電路3測(cè)定各感應(yīng)區(qū)域101的靜電容量值。由此，探測(cè)處理部12獲 取在各感應(yīng)區(qū)域101探測(cè)的靜電容量值。
[0085] 校正部13執(zhí)行校正工序，S卩，基于相關(guān)值表校正各靜電容量值，從而計(jì)算與各感 應(yīng)區(qū)域101對(duì)應(yīng)的相關(guān)校正值，其中所述相關(guān)值表是，將相鄰于各感應(yīng)區(qū)域101的其它感應(yīng) 區(qū)域101的靜電容量值對(duì)各感應(yīng)區(qū)域101的靜電容量值所產(chǎn)生的影響數(shù)值化的值。
[0086] 最大值搜尋部14執(zhí)行最大值搜尋工序，即，在各相關(guān)校正值中搜尋最大值。
[0087] 觸摸位置獲取部15執(zhí)行觸摸位置獲取工序，S卩，對(duì)應(yīng)最大值的感應(yīng)區(qū)域作為最大 區(qū)域，對(duì)