校正值定為〇(步驟S18)。在圖11示出的一例中，坐標（4,9)的相關校正值變?yōu)?。 另外，在步驟S18中，只要以在步驟S15不至于判斷為觸摸位置的程度減小最大區(qū)域的相關 校正值即可，并不是限定在必須為0的一例。例如，最大區(qū)域的相關校正值定為1/2也行。
[0119] 接著，準備部16是，如圖11所示，將對應于最大區(qū)域（4,9)的第1感應區(qū)域（4， 8)，（3,9)，（5,9)，（4,10)的相關校正值定為在提取區(qū)域106的外側(cè)分別相鄰于第1感應區(qū) 域的感應區(qū)域（4, 7)，（2,9)，（6,9)，（4,11)的相關校正值（步驟S19)。
[0120] 接著，準備部16是，如圖11所示，將對應于最大區(qū)域（4,9)的第2感應區(qū)域（3， 8)，（5,8)，（3,10)，（5,10)的相關校正值定為對各第2感應區(qū)域在提取區(qū)域106的外側(cè)以 行方向及列方向相鄰的2個感應區(qū)域（3, 7)和（2,8)，（5, 7)和（6,8)，（2,10)和（3,11)， (6,10)和（5,11)的各個相關校正值的平均值（步驟S20)。
[0121]接著，下一個觸摸位置獲取部17對變數(shù)i增加1 (步驟S21)，再過渡到步驟S12。 在步驟S12,最大值搜尋部14在所有相關校正值中搜尋最大值（MAX)(步驟S12 :最大值搜 尋工序）。例如，在圖12所示的一例中，坐標（5, 2)的85. 7成為新的最大值（MAX)，坐標 (5, 2)成為新的最大區(qū)域。
[0122] 在步驟S13中，i = 2,因i不是1(在步驟S13的"否"），下一個觸摸位置獲取部 17過渡到步驟S15。在步驟S15,下一個觸摸位置獲取部17比較在初始最大值（MAX0)乘 以基準比率0. 7的值和新的最大值（MAX)(步驟S15)。若最大值（MAX)為MAX0X0. 7以上 (在步驟S15的"否"），則認為存在下一個觸摸位置，從而下一個觸摸位置獲取部17再執(zhí) 行步驟S16以后的處理。其結果，在步驟S17,如圖13所示，獲取第2個觸摸位置P(2)= (4. 82, 2. 43)。
[0123] 以下，執(zhí)行步驟S18至S21，再執(zhí)行步驟S12。在步驟S12,下一個最大值（MAX)是坐 標（4,7)的70.2。此種情況，在步驟315,70.2<麻乂0\0.7(在步驟515的"是")。艮口，坐 標（4,7)的相關校正值相比于初始最大值（MAX0)太小，所以認為不存在下一個（第3個） 的觸摸位置。因此，下一個觸摸位置獲取部17是，若最大值（MAX)不足MAX0X 0.7 (在步驟 S15的"是"），則結束觸摸位置的探測處理，過渡到步驟S31以執(zhí)行觸控面板100的不良判 斷。
[0124] 接著，在步驟S31 (判斷工序），判定部18判斷在步驟S17探測的觸摸位置個數(shù)與 在步驟S1接觸的接觸個數(shù)是否相同。具體地，在步驟S1示出的例中，接觸個數(shù)是2。而且， 觸摸位置的探測個數(shù)為2時，變數(shù)i的值是3。因此，判定部18判斷變數(shù)i是否等于3,若 變數(shù)i不是3 (在步驟S31的"否"），則表示在步驟S1沒有正確地探測到所接觸的接觸個 數(shù)，從而判斷觸控面板100不良，其判斷結果顯示在顯示部4 (步驟S37)，結束處理。
[0125]另一方面，若變數(shù)i是3 (在步驟S31的"是"），則表示在步驟S1正確地探測到2 處接觸個數(shù)，所以判定部18過渡到步驟S32,以判斷觸摸位置的探測精密度。
[0126] 接著，判定部18計算檢測坐標TP1和觸摸位置P (1)的偏差量D1 (步驟S32 :判斷 工序）。具體地，在檢測坐標TP1的坐標為（Xtl，Ytl)，觸摸位置P(l)的坐標為（XI，Y1) 時，偏差量D1是，例如由下面式⑶求得。
【主權項】
1. 一種觸控面板的觸摸位置探測方法，所述觸控面板是在設定有二維坐標的觸摸面上 以網(wǎng)格形狀配置有復數(shù)個感應區(qū)域，其中，所述方法包含： 探測處理工序，獲取在所述各感應區(qū)域探測到的探測值； 校正工序，基于相關值，校正所述各探測值，從而計算與所述各感應區(qū)域?qū)南嚓P校 正值，其中所述相關值是將相鄰于所述各感應區(qū)域的其它感應區(qū)域的探測值對所述各感應 區(qū)域的探測值所產(chǎn)生的影響數(shù)值化的值； 最大值搜尋工序，在所述各相關校正值中搜尋最大值；以及 觸摸位置獲取工序，將對應于所述最大值的感應區(qū)域作為最大區(qū)域，對包含所述最大 區(qū)域和相鄰所述最大區(qū)域之其它感應區(qū)域的區(qū)域，計算基于所述相關校正值的重心位置， 將所述算出的重心位置作為觸摸位置而獲取。
2. 根據(jù)權利要求1所述的觸控面板的觸摸位置探測方法，其特征在于還包含： 準備工序，通過所述觸摸位置獲取工序，獲取所述觸摸位置后，減少所述最大區(qū)域的所 述相關校正值；以及 下一個觸摸位置獲取工序，在所述準備工序執(zhí)行之后，再反復執(zhí)行所述最大值搜尋工 序和所述觸摸位置獲取工序，由此獲取新的觸摸位置。
3. 根據(jù)權利要求2所述的觸控面板的觸摸位置探測方法，其特征在于， 在所述準備工序中，對圍繞所述最大區(qū)域而相鄰的其它感應區(qū)域的所述相關校正值， 基于在所述其它感應區(qū)域周圍的外側(cè)與所述其它感應區(qū)域相鄰的外側(cè)感應區(qū)域的所述相 關校正值來進行校正。
4. 根據(jù)權利要求2或3所述的觸控面板的觸摸位置探測方法，其特征在于， 在所述下一個觸摸位置獲取工序中，所述反復執(zhí)行的所述最大值搜尋工序中搜尋的最 大值，對最初在所述最大值搜尋工序中搜尋的最大值的比率，沒有達到預先設定的基準比 率時，不再獲取新的觸摸位置。
5. 根據(jù)權利要求1至3中任一項所述的觸控面板的觸摸位置探測方法，其特征在于， 所述相關值包含：對應于處理對象的感應區(qū)域即關注區(qū)域所規(guī)定的關注區(qū)域相關值； 對應于對所述關注區(qū)域以行方向或列方向相鄰的各第1感應區(qū)域所規(guī)定的第1相關值；和 對應于對所述關注區(qū)域以傾斜方向相鄰的各第2感應區(qū)域所規(guī)定的第2相關值， 其中，所述第1相關值比所述關注區(qū)域相關值小， 所述第2相關值比所述第1相關值小， 所述校正工序是，將所述各感應區(qū)域依序分配在所述關注區(qū)域，將所述關注區(qū)域的探 測值和所述關注區(qū)域相關值的相乘值，所述各第1感應區(qū)域的探測值和所述第1相關值的 各相乘值，所述各第2感應區(qū)域的探測值和所述第2相關值的各相乘值相加，從而計算所述 關注區(qū)域的相關校正值。
6. 根據(jù)權利要求1至3中任一項所述的觸控面板的觸摸位置探測方法，其特征在于， 在所述校正工序中，使所述復數(shù)個感應區(qū)域中位于所述觸摸面端部邊緣的感應區(qū)域的 所述相關校正值與在所述位于端部邊緣的感應區(qū)域的內(nèi)側(cè)相鄰的感應區(qū)域的所述相關校 正值相等。
7.-種觸控面板檢測方法，包含： 觸摸處理工序，在設定有二維坐標的觸摸面上以網(wǎng)格形狀配置有復數(shù)個感應區(qū)域的觸 控面板的所述觸摸面上，接觸1個或復數(shù)個模擬手指； 觸摸位置探測工序，對所述觸控面板執(zhí)行權利要求1至6中任一項記載的觸控面板的 觸摸位置探測方法；以及 判斷工序，對于通過所述觸摸位置探測工序探測的1個或復數(shù)個觸摸位置與在所述觸 摸處理工序中所述1個或復數(shù)個模擬手指在所述觸摸面上接觸的1個或復數(shù)個接觸位置之 間的各偏差量，判斷是否至少有一個超過預先設定的基準量。
8. -種觸控面板檢測裝置，包含： 觸摸機構，在設定有二維坐標的觸摸面上以網(wǎng)格形狀配置有復數(shù)個感應區(qū)域的觸控面 板的所述觸摸面上，接觸1個或復數(shù)個模擬手指； 觸摸位置探測部，對所述觸控面板執(zhí)行權利要求1至6中任一項記載的觸控面板的觸 摸位置探測方法；以及 判定部，對于通過所述觸摸位置探測部探測的1個或復數(shù)個觸摸位置與通過所述觸摸 機構所述1個或復數(shù)個模擬手指在所述觸摸面上接觸的1個或復數(shù)個接觸位置之間的各偏 差量，判斷是否至少有一個超過預先設定的基準量。
9. 一種觸控面板檢測裝置，包含： 觸摸機構，在設定有二維坐標的觸摸面上以網(wǎng)格形狀配置有復數(shù)個感應區(qū)域的觸控面 板的所述觸摸面上，接觸1個或復數(shù)個模擬手指； 探測處理部，獲取在所述各感應區(qū)域探測到的探測值； 校正部，基于相關值，校正所述各探測值，從而計算與所述各感應區(qū)域?qū)南嚓P校正 值，其中所述相關值是將相鄰于所述各感應區(qū)域的其它感應區(qū)域的探測值對所述各感應區(qū) 域的探測值所產(chǎn)生的影響數(shù)值化的值； 最大值搜尋部，在所述各相關校正值中搜尋最大值； 觸摸位置獲取部，將對應于所述最大值的感應區(qū)域作為最大區(qū)域，對包含所述最大區(qū) 域和相鄰該最大區(qū)域之其它感應區(qū)域的區(qū)域，計算基于所述相關校正值的重心位置，將所 述算出的重心位置作為觸摸位置而獲取；以及 判定部，對于通過所述觸摸位置獲取部探測的1個或復數(shù)個觸摸位置與通過所述觸摸 機構所述1個或復數(shù)個模擬手指在所述觸摸面上接觸的1個或復數(shù)個接觸位置之間的各偏 差量，判斷是否至少有一個超過預先設定的基準量。
【專利摘要】本發(fā)明提供可以提高觸摸位置的探測精密度的觸控面板的觸摸位置探測方法、觸控面板檢測方法及觸控面板檢測裝置。所述觸控面板的觸摸位置探測方法，包含：探測處理工序，獲取在觸控面板的各感應區(qū)域探測到的靜電容量值；校正工序，基于相關值，校正各靜電容量值，從而計算各相關校正值；最大值搜尋工序，在各相關校正值中搜尋最大值；以及觸摸位置獲取工序，將對應于最大值的感應區(qū)域作為最大區(qū)域，對包含該最大區(qū)域和相鄰該最大區(qū)域之其它感應區(qū)域的區(qū)域，計算基于相關校正值的重心位置，將所述算出的重心位置作為觸摸位置而獲取。
【IPC分類】G06F3-041, G06F3-044
【公開號】CN104850255
【申請?zhí)枴緾N201510059691
【發(fā)明人】楠田達文, 本田睦博, 栗原靖人
【申請人】日本電產(chǎn)理德股份有限公司
【公開日】2015年8月19日
【申請日】2015年2月4日
【公告號】EP2908229A1, US20150234537